ИСТИНА

Сутырин А.Г.

Соавторы: Бушуев В.А., Ломов А.А., Lomov A.A., Караванский В.А., Bayliss S.A., Zavaritskaya T.N., Мельник В.Н., Galiev G.B., Kacerovsky Р., Prohorov D.Y., Васильевский И.С., Кульбачинский В.А., Ломов А.А. показать полностью..., Ломов А.А.

9 статей, 15 докладов на конференциях, 8 тезисов докладов, 1 диссертация

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 31, Scopus: 29

IstinaResearcherID (IRID): 1164106

Деятельность

• Статьи в журналах

  • • 2004 Effect of Bulk Inhomogeneities on X-Ray Specular Reflection and Diffuse Scattering
    • Sutyrin A.G., Bushuev V.A., Lomov A.A.
    • в журнале Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, издательство Allerton Press Inc. (United States), том 68, № 4, с. 618-623
  • 
    • 2004 Влияние объемных неоднородностей на зеркальное отражение и диффузное рассеяние рентгеновских лучей
    • Сутырин А.Г., Бушуев В.А., Ломов А.А.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 68, № 4, с. 545-549
  • 
    • 2003 Observation of nanocrystals in porous stain-etched germanium
    • Karavanskii V.A., Lomov A.A., Sutyrin A.G., Bushuev V.A., Loikho N.N., Melnik N.N., Zavaritskaya T.N., Bayliss S.A.
    • в журнале Physica status solidi (A): Applied research, издательство Academic Press (United States), том 197, № 1, с. 144-149
  • 
    • 2003 Raman and X-ray studies of nanocrystals in porous stain-etched germanium
    • Karavanskii V.A., Lomov A.A., Sutyrin A.G., Bushuev V.A., Loiko N.N., Melnik N.N., Zavaritskaya T.N., Bayliss S.
    • в журнале Thin Solid Films, издательство Elsevier Sequoia (Switzerland), том 437, с. 290-296
  • 
    • 2002 Reconstruction of the Surface Layer Density Profile by the X-ray Reflectometry Method
    • Bushuev V.A., Lomov A.A., Sutyrin A.G.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 47, № 4, с. 683-690
  • 
    • 2002 Восстановление профиля распределения плотности приповерхностного слоя в методе рентгеновской рефлектометрии
    • Бушуев В.А., Ломов А.А., Сутырин А.Г.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 47, № 4, с. 741-749
  • 
    • 2001 On Correct Consideration of Interfacial Roughnesse in the Recurrence Parratt Formulae
    • Bushuev V.A., Sutyrin A.G.
    • в журнале Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, том 16, с. 121-126
  • • 2000 К вопросу о корректном учете межслойных шероховатостей в рекуррентных формулах Парратта
    • Бушуев В.А., Сутырин А.Г.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва), № 1, с. 82-85
  • • 2000 Структура пленок пористого кремния по данным рентгеновской рефлектометрии
    • Бушуев В.А., Ломов А.А., Сутырин А.Г., Караванский В.А.
    • в журнале Перспективные материалы, издательство Интерконтакт Наука (М.), № 4, с. 25-33

• Доклады на конференциях

  • • 2006 Характеризация пористых слоев методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей при скользящем падении.
    • Авторы: Сутырин А.Г., Бушуев В.А., Ломов А.А.
    • Тез. Нац. конференции по росту кристаллов (Москва, ИКАН, 15-19 октября 2006 г.). С. 31-33. , Москва, Россия, ИКАН, Россия, 2006
  • • 2004 X-Ray reflectivity study of porous GaAs layers.
    • Авторы: Сутырин А.Г., Ломов А.А., Бушуев В.А.
    • Abstr. 7th Biennail Conf. on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP-2004, 7-10 Sep. 2004, Prague, Czech. Republic), 2004, P. P-83., Prague, Czech. Republic, 2004
  • • 2003 Влияние объемных неоднородностей на зеркальное отражение и диффузное рассеяние рентгеновских лучей.
    • Авторы: Сутырин А.Г., Ломов А.А., Бушуев В.А.
    • Тр. Совещания “Рентгеновская оптика - 2003” (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 11-14 марта 2003), 2003. С. 201-207., Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2003
  • • 2003 Определение параметров пористых слоев методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей.
    • Авторы: Сутырин А.Г., Ломов А.А., Бушуев В.А.
    • Тез. докладов IV национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ, 17-22 ноября 2003 г., Москва). 2003. С. 423., Москва, Россия, ИКАН, Россия, 2003
  • • 2002 Characterization of porous GaAs layers by X-ray reflectometry.
    • Авторы: Lomov A.A., Бушуев В.А., Караванский В.А., Сутырин А.Г., Dravin V.
    • Third International Conference Porous Semicondactors Science and Tnechnology (Tenerif, Spain, 10-15 March 2002), P. 197-198., Tenerif, Spain, Испания, 2002
  • • 2002 Observation of nanocrystals in porous stain-etched germanium.
    • Авторы: Караванский В.А., Ломов А.А., Сутырин А.Г., Бушуев В.А., Лойко Н.Г., Мельник В.Н., Bayliss S.A., Zavaritskaya T.N.
    • Third International Conference Porous Semicondactors Science and Tnechnology (Tenerif, Spain, 10-15 March 2002), P. 197-198., Tenerif, Spain, Испания, 2002
  • • 2001 Оптимизация итерационной процедуры обработки данных в методе рентгеновской рефлектометрии
    • Авторы: Ломов А.А., Сутырин А.Г., Бушуев В.А.
    • Тез. Всероссийской школы по рентгеновской оптике, Черноголовка, ИПТМ. 25-26 октября 2001. С. 13., г. Черноголовка, ИПТМ РАН, 2001
  • • 2001 Оптимизация итерационной процедуры обработки данных в методе рентгеновской рефлектометрии.
    • Авторы: Сутырин А.Г., Ломов А.А., Бушуев В.А.
    • Тез. III Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (21-25 мая 2001, Москва). С. 338., Москва, Россия, ИКАН, Россия, 2001
  • • 2001 Характеризация stain-etch пленок пористого германия методами рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии.
    • Авторы: Лойко Н.Н., Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А., Сутырин А.Г., Bayliss S.A.
    • Тез. III Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (21-25 мая 2001, Москва). С. 338., Москва, Россия, ИКАН, Россия, 2001
  • • 2000 High resolution X-ray reflectometry study of thin porous films
    • Авторы: Lomov A.A., Сутырин А.Г., Бушуев В.А.
    • Abstr. 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography (XTOP-2000), Ustron-Jaszowiec, Poland, 13-15 September 2000, P. 65., Ustron-Jaszowiec, Poland, Польша, 2000
  • • 2000 Характеризация ростовых неоднородностей плотности тонких пленок
    • Авторы: Сутырин А.Г., Ломов А.А., Бушуев В.А.
    • Тез. IX Национальной конференции по росту кристаллов (НКРК-2000, Москва, Институт кристаллографии РАН, 16-20 октября 2000). C. 397., Москва, Россия, ИКАН, Россия, 2000
  • • 1999 Влияние щели монохроматора на величину псевдопика в угловых спектрах трехкристальной рентгеновской дифрактометрии.
    • Авторы: Сутырин А.Г., Бушуев В.А.
    • Тез. 2-ой Национальной конф. при применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99). Москва, 23-27 мая 1999 г. С. 255. , Москва, Россия, ИКАН, Россия, 1999
  • • 1999 Дифракция рентгеновских лучей на многослойных структурах с учетом явления репликации межслойных шероховатостей. // Там же. С. 181.
    • Авторы: Сутырин А.Г., Бушуев В.А.
    • Тез. 2-ой Национальной конф. при применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99). Москва, 23-27 мая 1999 г. С. 255. , Москва, Россия, ИКАН, Россия, 1999
  • • 1999 К вопросу о корректном учете межслойных шероховатостей в рекуррентных формулах Парратта.
    • Авторы: Сутырин А.Г., Бушуев В.А.
    • Материалы рабочего совещания “Рентгеновская оптика-99”. Нижний Новгород, ИФМ РАН. 1999. С. 211-215., Нижний Новгород, ИФМ РАН, 1999
  • • 1999 Рентгеновская рефлектометрия пористых бор-диффузионных слоев кремниевых подложек.
    • Авторы: Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А., Сутырин А.Г.
    • Тез. 2-ой Национальной конф. при применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99). Москва, 23-27 мая 1999 г. С. 255. , Москва, Россия, ИКАН, Россия, 1999

• Тезисы докладов

  • • 2006 Характеризация пористых слоев методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей при скользящем падении
    • Сутырин А.Г., Ломов А.А., Бушуев В.А.
    • в сборнике Тез. Нац. конференции по росту кристаллов (Москва, ИКАН, октябрь 2006 г.). С. 55-58, место издания ИК РАН Москва, тезисы, с. 55-58
  • • 2005 Возможности рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии в характеризации низкоразмерных внутренних слоев гетеросистем на основе А3В5
    • Прохоров Д.Ю., Сутырин А.Г., Ломов А.А., Kacerovsky Р., Васильевский И.С., Кульбачинский В.А., Галиев Г.Б.
    • в сборнике Тезисы докл. "V Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов и наносистем". РСНЭ-НАНО, место издания ИК РАН М:, тезисы, с. 250
  • • 2004 X-Ray reflectivity study of porous GaAs layers
    • Sutyrin A., Lomov A., Bushuev V.
    • в сборнике Abstr. 7th Biennail Conf. on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP-2004, 7-10 Sep. 2004, Prague, Czech. Republic), 2004, P. P-83,, место издания Prague, тезисы, с. 83-83
  • • 2004 X-Ray reflectivity study of porous GaAs layers
    • Sutyrin A., Lomov A., Bushuev V.
    • в сборнике Abstr. 7th Biennail Conf. on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP-2004, 7-10 Sep. 2004, Prague, Czech. Republic), 2004, P. P-83,, место издания Prague, тезисы, с. 83-83
  • • 1999 Дифракция рентгеновских лучей на многослойных структурах с учетом явления репликации межслойных шероховатостей
    • Бушуев В.А., Сутырин А.Г.
    • в сборнике Тезисы докладов 2-й национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99, Москва), место издания Изд-во ИК РАН Москва, тезисы, с. 182-182
  • • 1999 Дифракция рентгеновских лучей на многослойных структурах с учетом явления репликации межслойных шероховатостей
    • Бушуев В.А., Сутырин А.Г.
    • в сборнике Тезисы докладов 2-й национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99, Москва), место издания Изд-во ИК РАН Москва, тезисы, с. 181-181
  • • 1999 К вопросу о корректном учете межслойных шероховатостей в рекуррентных формулах Парратта
    • Бушуев В.А., Сутырин А.Г.
    • в сборнике Материалы рабочего совещания “Рентгеновская оптика-99”. Нижний Новгород, ИФМ РАН. 1999, место издания Нижний Новгород, тезисы, с. 211-215
  • • 1999 Рентгеновская рефлектометрия пористых бор-диффузионных слоев кремниевых подложек
    • Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А., Сутырин А.Г.
    • в сборнике Тезисы докладов 2-й национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99, Москва), место издания Изд-во ИК РАН Москва, тезисы, с. 150-150

• Диссертация

  • • 2003 Прямые и обратные задачи в рентгеновской рефлектометрии многослойных и пористых структур
    • Кандидатская диссертация по специальности 01.04.07 - Физика конденсированного состояния (физ.-мат. науки)
    • Автор: Сутырин А.Г.
    • Научный руководитель: Бушуев В.А., д.ф.-м.н., проф., МГУ имени М.В. Ломоносова, Ломов А.А.
    • Защищена в совете К 501.001.02 при Физический факультет МГУ