ИСТИНА

Ломов А.А.

Соавторы: Орешко А.П., Бушуев В.А., Мяконьких А.В., Чесноков Ю.М., Шемухин А.А., Караванский В.А., Bocchi C., Chesnokov Y.M., Myakon’Kikh A.V., Васильев А.Л., Карцев А.А., Киселев Д.А., Назаров А.В. показать полностью..., Сутырин А.Г., Татаринцев А.А., Чесноков Ю.Н., Шитов Н.В.

9 статей, 7 докладов на конференциях, 6 тезисов докладов

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 1, Scopus: 3

IstinaResearcherID (IRID): 2858789

Деятельность

• Статьи в журналах

  • • 2023 Влияние гомобуферного слоя на морфологию, микроструктуру и твердость пленок Al/Si(111)
    • Ломов А.А., Захаров Д.М., Тарасов М.А., Чекушкин А.М., Татаринцев А.А., Киселёв Д.А., Ильина Т.C., Селезнев А.Е.
    • в журнале Журнал технической физики, издательство Наука (СПб.), том 93, № 7, с. 897-906 DOI
  • 
    • 2017 Complementary study of the internal porous silicon layers formed under high-dose implantation of helium ions
    • Lomov A.A., Myakon’kikh A.V., Chesnokov Y.M., Shemukhin A.A., Oreshko A.P.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 62, № 2, с. 189-194 DOI
  • 
    • 2017 The Formation of Helium Bubbles in Silicon Surface Layers via Plasma Immersion Ion Implantation
    • Lomov A.A., Chesnokov Yu M., Oreshko A.P.
    • в журнале Moscow University Physics Bulletin, издательство Allerton Press (New York, N.Y., United States), том 72, № 6, с. 563-568 DOI
  • • 2017 Комплементарные исследования внутренних пористых слоев кремния, образованных при высокодозной имплантации ионов гелия
    • Ломов А.А., Мяконьких А.В., Чесноков Ю.Н., Шемухин А.А., Орешко А.П.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 62, № 2, с. 196-201 DOI
  • • 2017 Формирование гелиевых пузырей в приповерхностных слоях кремния плазменно-иммерсионной ионной имплантацией
    • Ломов А.А., Чесноков Ю.М., Орешко А.П.
    • в журнале Вестник Московского университета. Серия 3: Физика, астрономия, издательство Изд-во Моск. ун-та (М.), № 6, с. 68-73
  • • 2016 Исследования процесса аморфизации имплантированных низкоэнергетичными ионами гелия приповерхностных слоев кремния
    • Ломов А.А., Мяконьких А.В., Орешко А.П., Шемухин А.А.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 61, № 2, с. 195-202 DOI

• Статьи в сборниках

  • • 2017 Влияние термического отжига на структуру скрытых слоев кремния с гелиевыми порами-пузырями
    • Ломов А.А., Мяконьких А.В., Чесноков Ю.М., Киселев Д.А., Орешко А.П.
    • в сборнике XXVII международная конференция "Радиационная физика твердого тела", серия Радиационная физика твёрдого тела, место издания ФГБНУ «НИИ ПМТ», с. 78-88
  • • 2016 Структурные исследования гелиевых пор-пузырей в приповерхностных слоях кремния после плазменно-иммерсионной ионной имплантации
    • Ломов А.А., Чесноков Ю.М., Орешко А.П.
    • в сборнике Труды XXVI Международной конференции "Радиационная физика твёрдого тела" (Севастополь, 4 июля -9 июля 2016 г.), серия Радиационная физика твёрдого тела, место издания ФГБНУ «НИИ ПМТ», г. Москва, с. 94-101
    • редактор Бондаренко Г.Г.
  • • 2015 Исследование Si (001) подложек, подвергнутых плазменно-иммерсионно ионной имплантации He+ методом рентгеновской рефлектометрии
    • Ломов А.А., Мяконьких А.В., Орешко А.П., Шемухин А.А., Назаров А.В.
    • в сборнике Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики, место издания Великий Новгород, с. 135-138

• Доклады на конференциях

  • • 2017 Влияние термического отжига на структуру скрытых слоев кремния с гелиевыми порами-пузырями (Устный)
    • Авторы: Ломов А.А., Мяконьких А.В., Чесноков Ю.М., Киселев Д.А., Орешко А.П.
    • XXVII международная конференция "Радиационная физика твердого тела", Севастополь, Россия, 10 июля - 15 августа 2017
  • • 2016 Структурные исследования гелиевых пор-пузырей в приповерхностных слоях кремния после плазменно-иммерсионной ионной имплантации (Приглашенный)
    • Авторы: Ломов А.А., Чесноков Ю.М., Орешко А.П.
    • XXVI Международная конференция "Радиационная физика твёрдого тела", Севастополь, Россия, 4-9 июля 2016
  • • 2015 Характеризация внутренних пористых кремниевых слоев, образованных высокодозовой имплантацией ионов гелия методом рентгеновской рефлектометрии (Устный)
    • Авторы: Ломов А.А., Орешко А.П.
    • Современные методы исследования структуры материалов и их применение в материаловедении, НИТУ "МИСиС", Россия, 8 октября 2015
  • • 2015 Исследование Si (001) подложек, подвергнутых плазменно-иммерсионно ионной имплантации He+ методом рентгеновской рефлектометрии (Устный)
    • Авторы: Ломов А.А., Мяконьких А.В., Орешко А.П., Шемухин А.А., Назаров А.В.
    • Седьмой международный научный семинар и Пятая международная научная школа-семинар "Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики", Великий Новгород, 24-29 августа 2015 г., Великий Новгород, судно «Господин Великий Новгород», Россия, 24-29 августа 2015
  • • 2008 Рентгеновская рефлектометрия пленок и сверхрешеток на основе манганитов с гигантским магнитосопротивлением и структурно совместимых с высокотемпературными сверхпроводниками
    • Авторы: Степанцов Е.А., Ломов А.А., Ганьшина Е.А., Андреева М.А., Ломбарди Ф., Винклер Д.
    • Четвёртый международный научный семинар «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)» (г. Великий Новгород, 6 – 11 сентября 2008 года), г. Великий Новгород, 2008
  • • 2007 Рентгендифракционное и магнитооптическое исследование сверхрешетки ферромагнитных окидов, структурно совместимых с высокотемпературными сверхпроводниками.
    • Авторы: Степанцов Е.А., Ломов А.А., Ганьшина Е.А., Андреева М.А., Смехова А.Г., Винклер Д.
    • VI НАЦИОНАЛЬНАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ по применению РЕНТГЕНОВСКОГО, СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЙ, НЕЙТРОНОВ И ЭЛЕКТРОНОВ для исследования МАТЕРИАЛОВ: РСНЭ – 2007 (Москва, 12-17 ноября 2007), г. Москва, ИНСТИТУТ КРИСТАЛЛОГРАФИИ им. А.В. Шубникова РАН, Россия, 2007
  • • 2007 Структурные и магнитные свойства сверхрешетки [La2/3Ca1/3MnO3/LaMnO3]25/SrTiO3(001)
    • Авторы: Ломов А.А., Степанцов Е.А., Ганьшина Е.А., Андреева М.А., Смехова А.Г., Винклер Д.
    • Конференция по физике конденсированного состояния, сверхпроводимости и материаловедению, посвященной 50-летию исследвательского ядерного реактора ИРТ (26-30 ноября 2007 г., РНЦ «Курчатовский институт» ), г. Москва, РНЦ «Курчатовский институт», Россия, 2007

• Тезисы докладов

  • • 2015 Характеризация внутренних пористых кремниевых слоев, образованных высокодозовой имплантацией ионов гелия методом рентгеновской рефлектометрии
    • Ломов А.А., Орешко А.П.
    • в сборнике Современные методы исследования структуры материалов и их применение в материаловедении, место издания НИТУ МИСиС Москва, тезисы, с. 31-35
  • • 2008 Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометрии
    • Карцев А.А., Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский А.В., Васильев А.Л.
    • в сборнике Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106, место издания Великий Новгород, тезисы, с. 103-106
  • • 1999 Рентгеновская рефлектометрия пористых бор-диффузионных слоев кремниевых подложек
    • Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А., Сутырин А.Г.
    • в сборнике Тезисы докладов 2-й национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99, Москва), место издания Изд-во ИК РАН Москва, тезисы, с. 150-150
  • • 1998 The New Features of X-ray Triple Crystal Diffractometry for Characterization of Microscale Surface and Interface Roughness of Single Crystal
    • Lomov A.A., Bushuev V.A.
    • в сборнике Abstr. 4th European Conference on “High Resolution X-ray Diffraction and Topography” (Durham, U.K., 9-11 September 1998), P. P1.56, место издания Durham, тезисы, с. 56-56
  • • 1996 An advanced X-ray HRD studies of microdefects in Si doped GaAs bulk crystal
    • Lomov A.A., Bushuev V.A., Franzosi P., Bocchi C., Imamov R.M.
    • в сборнике Proc. 3rd European Symposium “X-Ray Topography and High Resolution Diffraction” (Palermo, Italy, 22-24 April 1996), P. 49, место издания Rome, тезисы, с. 49-49
  • • 1992 High-resolution X-ray diffraction for investigation of subsurface transition in CsDSO4 single crystals
    • Lomov A.A., Bushuev V.A., Shitov N.V.
    • в сборнике Abstr. 1st European Sympozium “X-ray topography and high-resolution diffractometry” (Marseilee, France, 1992), P. 125, место издания Marseilee, France, тезисы, с. 125-125