ИСТИНА

Мельник В.Н.

Соавторы: Юрковец Д.И., Соколов В.Н., Разгулина О.В., Караванский В.А., Bayliss S.A., Gradoboev M.N., Loiko N.N., Zavaritskaya T.N., Бушуев В.А., Галушко Т.Б., Дицман С.А., Кулакова И.И., Ломов А.А. показать полностью..., Рау Э.И., Серебрякова Н.В., Сутырин А.Г., ALEXENKO A., Davidson J.L., Karpukhina N.F., Karpukhina T.A., SPITSYN V., Zavaleyev V.A., Абатуров М.А., Горбунов А.М., Гречихина А.М., Константинова Е.А., Сеннов Р.А., Спицын Б.В., Тимошенко В.Ю.

17 статей, 5 докладов на конференциях, 1 диссертация

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 106, Scopus: 113

IstinaResearcherID (IRID): 1158879

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2020 Мodification and functional properties of detonation nanodiamond
    • Grechikhina A.M., Abaturov M.A., Alexenko A.E., Galushko T.B., Melnik N.N., Gorbunov A.M., Zavaleyev V.A.
    • в журнале Fullerenes Nanotubes and Carbon Nanostructures, издательство Marcel Dekker Inc. (United States), том 28, № 4, с. 325-327 DOI
  • 
    • 2006 Inroad to modification of detonation nanodiamond
    • Spitsyn B.V., Davidson J.L., Gradoboev M.N., Serebryakova N.V., Karpukhina N.F., Kulakova I.I., Melnik N.N.
    • в журнале Diamond and Related Materials, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 15, № 2-3, с. 296-299 DOI
  • 
    • 2005 METHOD FOR ESTIMATING MICRO-OBJECT SPHERICITY BY SEM IMAGES
    • Sokolov V.N., Yurkovets D.I., Razgulina O.V., Melnik V.N.
    • в журнале Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, издательство Allerton Press Inc. (United States), том 69, № 4, с. 610-613
  • • 2005 МЕТОД ОЦЕНКИ ОКРУГЛОСТИ МИКРООБЪЕКТОВ ПО РЭМ-ИЗОБРАЖЕНИЯМ
    • Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 69, № 4, с. 533-537
  • • 2004 INVESTIGATION OF SOLID MICROSTRUCTURE CHARACTERISTICS WITH COMPUTER ANALYSIS OF SEM IMAGES
    • Sokolov V.N., Yurkovets D.I., Razgulina O.V., Melnik V.N.
    • в журнале Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, издательство Allerton Press Inc. (United States), том 68, с. 1491-1491
  • 
    • 2004 ИЗУЧЕНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСТРУКТУРЫ ТВЕРДЫХ ТЕЛ С ПОМОЩЬЮ КОМПЬЮТЕРНОГО АНАЛИЗА РЭМ-ИЗОБРАЖЕНИЙ
    • Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 68, № 9, с. 1332-1337
  • 
    • 2003 Observation of nanocrystals in porous stain-etched germanium
    • Karavanskii V.A., Lomov A.A., Sutyrin A.G., Bushuev V.A., Loikho N.N., Melnik N.N., Zavaritskaya T.N., Bayliss S.A.
    • в журнале Physica status solidi (A): Applied research, издательство Academic Press (United States), том 197, № 1, с. 144-149
  • 
    • 2003 Raman and X-ray studies of nanocrystals in porous stain-etched germanium
    • Karavanskii V.A., Lomov A.A., Sutyrin A.G., Bushuev V.A., Loiko N.N., Melnik N.N., Zavaritskaya T.N., Bayliss S.
    • в журнале Thin Solid Films, издательство Elsevier Sequoia (Switzerland), том 437, с. 290-296
  • • 2003 ЭКСПРЕСС-МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ВЫСОТ МИКРООБЪЕКТОВ В РЭМ
    • Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 3, с. 27-31
  • • 2002 АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА МОРФОЛОГИЧЕСКОГО АНАЛИЗА СКЕЛЕТНОГО КОМПОНЕНТА МИКРОСТРУКТУРЫ ПО РЭМ-ИЗОБРАЖЕНИЯМ
    • Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 10, с. 66-69
  • 
    • 2001 STEREOMICROTOMOGRAPHY AS A NEW METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY INVESTIGATION OF THREE-DIMENSIONAL MICROSTRUCTURES
    • Ditsman S.A., Rau E.I., Sennov R.A., Sokolov V.N., Yurkovets D.I., Melnik V.N.
    • в журнале Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, том 16, № 12, с. 1841-1844
  • • 2001 АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА СШИВКИ РЭМ-ИЗОБРАЖЕНИЙ
    • Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 8, с. 6-9
  • • 2000 СТЕРЕОМИКРОТОМОГРАФИЯ -НОВЫЙ СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОСТРУКТУР В РЭМ
    • Дицман С.А., Мельник В.Н., Рау Э.И., Соколов В.Н., Юрковец Д.И.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 12, с. 13
  • 
    • 1997 Radiation hardness of porous silicon
    • Ushakov V.V., Dravin V.A., Melnik N.N., Karavanskii V.A., Konstantinova E.A., Timoshenko V.Y.
    • в журнале Semiconductors, издательство Izdatel'stva Nauka (Russian Federation), том 31, № 9, с. 966-969 DOI
  • • 1997 МЕТОД КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА МИКРОСТРУКТУРЫ ТВЕРДЫХ ТЕЛ ПО РЭМ ИЗОБРАЖЕНИЯМ
    • Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н.
    • в журнале Заводская лаборатория. Диагностика материалов, издательство ТЕСТ-ЗЛ (М.), том 63, № 9, с. 31-31
  • 
    • 1996 АНАЛИЗ РЭМ СТЕРЕОИЗОБРАЖЕНИЙ
    • Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Мельник В.Н.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 60, № 2, с. 55-64

• Статьи в сборниках

  • • 2005 Purification and Functionalization of Nanodiamond
    • Spitsyn B.V., Gradoboev M.N., Galushko T.B., Karpukhina T.A., Serebryakova N.V., Kulakova I.I., Melnik N.N.
    • в сборнике Innovative Superhard Materials and Sustainable Coating for Advanced Manufacturing, серия NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, место издания Springer Netherlands, том 200, с. 241 -252

• Доклады на конференциях

  • • 2015 ЗАВИСИМОСТЬ СТАЦИОНАРНЫХ КОНФИГУРАЦИЙ ТОНКОГО ТОКОВОГО СЛОЯ С ПОСТОЯННОЙ НОРМАЛЬНОЙ КОМПОНЕНТОЙ МАГНИТНОГО ПОЛЯ ОТ ВНЕШНИХ ПАРАМЕТРОВ (Устный)
    • Авторы: Мингалев О.В., Мингалев И.В., Малова Х.В., Мельник М.Н., Зеленый Л.М.
    • 10-я ежегодная конференция "Физика плазмы в Солнечной системе". 16-20 февраля 2015, ИКИ РАН , Институт космических исследований РАН, Россия, 16-20 февраля 2015
  • • 2014 РАСЩЕПЛЕННЫЕ КОНФИГУРАЦИИ ТОНКОГО ТОКОВОГО СЛОЯ С ДВУМЯ САМОСОГЛАСОВАННЫМИ И ПОСТОЯННОЙ НОРМАЛЬНОЙ КОМПОНЕНТАМИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ
    • Авторы: Мингалев О.В., Мингалев И.В., Зеленый Л.М., Мельник М.Н., Малова Х.В.
    • Девятая ежегодная конференция «Физика плазмы в Солнечной системе», 10-14 февраля 2014 г., ИКИ РАН, Москва, ИКИ РАН, Москва, Россия, 2014
  • • 2013 ЧИСЛЕННАЯ МОДЕЛЬ ТОНКОГО ТОКОВОГО СЛОЯ С УЧЕТОМ ЭЛЕКТРОНОВ,
    • Авторы: Мингалев О.В., Мингалев И.В., Мельник М.Н., Зеленый Л.М., Малова Х.В.
    • Восьмая ежегодная конференция "Физика плазмы в солнечной системе", ИКИ РАН, Москва, 4-8 февраля 2013 г., Россия, 2013
  • • 2012 Функция распределения пролетных ионов в тонком токовом слое с двумя самосогласованными и постоянной нормальной компонентами магнитного поля
    • Авторы: Мингалев О.В., Мингалев И.В., Малова Х.В., Артемьев А.В., Зеленый Л.М., Мельник В.Н.
    • VIII Конференция «Физика плазмы в Солнечной системе». 6-12 февраля 2012г. , Москва, ИКИ РАН, Россия, 2012
  • • 2002 Observation of nanocrystals in porous stain-etched germanium.
    • Авторы: Караванский В.А., Ломов А.А., Сутырин А.Г., Bayliss S.A., Loiko N.N., Мельник В.Н., Zavaritskaya T.N., Бушуев В.А.
    • Third International Conference Porous Semicondactors Science and Tnechnology (Tenerif, Spain, 10-15 March 2002), P. 177-178., Tenerif, Spain, Испания, 2002

• Диссертация

  • • 1995 Теория и практика фотограмметрических методов в электронно-микроскопических исследованиях
    • Докторская диссертация по специальности 05.24.02 (техн. науки)
    • Автор: Мельник В.Н.
    • Научный консультант: Соколов В.Н., д.г.-м.н., проф., МГУ имени М.В. Ломоносова
    • Защищена в совете Специализированный Ученый Совет при Государственный университет "Львовская политехника", г. Львов, Республика Украина