Kochanek C.S.

Kochanek C.S.

Соавторы: Chochol D., Brandt N.B., Dawson K., Бизяев Д.В., Денисенко Д.В., Maehara H., McGreer I.D., Horne K., Jiang L., Peterson B.M., Petitjean P., Oravetz D., Schneider D.P. показать полностью..., Ueda S., Stubbings R., Strauss M.A., Antonyuk O.I., Antoniuk K., Brinkman J., Brownstein J.R., Chen Y.H., Bolt G., Buczynski D., Dubois F., Crawford T., Eisenstein D.J., Cook L., Dvorak S., Fan X.D., Eftekharzadeh S., Goff W.N., Greene E., Grier C.J., Hambsch F.J., Hirosawa K., Ho C.L., Tordai T., Trump J.R., Волошина И.Б., Голышева П.Ю., Катышева Н.А., Шугаров С.Ю., Littlefield C., Logie L., Malanushenko E., Malanushenko V., Masi G., Michel R., Modic R.J., Kaneko S., Kinemuchi K., Paris I., Pavlenko E.P., Paxson K.B., Peters C.M., Pit N., Ponder K., Prieto J.L., Rau S., Richmond M.W., Ruiz J., Sabo R., Morelle E., Moriyama M., Mukai M., Muyllaert E., Nishimura H., Oksanen A., Schmeer P., Shappee B.J., Shears J., Shiokawa K., Sjoberg G., Sosnovskij A., Stanek K.Z., Ulowetz J., Zharikov S.V., Бабина Ю.В., Szalay A.S., Suni M., Tinker J., Tao C., Stein W., Steinmetz M., Bochanski J.J., Bentz M.C., Beers T.C., Bickerton S.J., Balbinot E., Blanton M., Anderson S.F., AlSayyad Y., Akazawa H., Allende P.C., Aihara H., Aubourg É., ANDREEV V., Brown P., Carr M., Comparat J., Boeche C., Campbell H.C., Bovy J., Chiappini C., Bundy K., Canard B., Connolly N., Bolton A., Busca N., Chen Y.P., Dubovsky P.A., Denney K.D., Dhital S., Croft R.A., Cuesta A.J., Davenport J.R., Ealet A., Escoffier S., Edmondson E.M., Esposito M., Ebelke G., Evans M.L., Efimov Y.S., Frinchaboy P.M., Fukushima D., Fernandez-Trincado J.G., Gao Y., Femenía C.B., Gilmore G., Font-Ribera A., Gillespie B.A., González Hernández J.I., Grebel E.K., Green P.J., Gunn J.E., Hall P.B., Hamilton J.C., Harding P., Hawley S.L., Hearty F.R., Henden A.A., Tofflemire B.M., Taнака M., Thakar A.R., Tojeiro R., Tanabe K., Takenaka M., Tremonti C.A., Голд А., Голо В.Л., Дорошенко В.Т., И Д., Иван И.И., Калязин Е.П., Крушевская В.Н., М И., Матсумото К., Неустроев В.П., Ричардс К., Сердан А.А., Хан К.Ю., Шмидт С., Kirkby D., Kiyota S., Klaene M.A., Knapp G.R., Koesterke L., Kojiguchi N., Kollmeier J.A., Kron R.G., Kudzej I., Lampeitl H., Le Goff J.M., Lee Y.S., Long D., Loomis C., Lucatello S., Lundgren B., Lupton R.H., Ma R., MacDonald N., Maeda K., Maeda Y., Mahadevan S., Maia M.A., Mandelbaum R., Maraston C., Margala D., Martini P., Masters K.L., Masumoto K., Matsuda R., McBride C.K., McGehee P.M., Miller I., Miralda-Escudé J., Miyashita T.a., Monard B., Ho S., Holtzman J.A., Homayouni Y., Honscheid K., Hutchinson T., I-Hsiu L.J., Inada N., Ishibashi S., Isogai K., Itoh H., James M.N., Jin S., Johnson M.E., Kafka S., Kasai K., Kato T., Kato T., Kato T., Kawabata M., Kelly B.C., Kinoshita H., O’Connel R., Padmanabhan N., Palanque-Delabrouille N., Pandey S., Parakhin N.A., Percival W.J., Pfaffenberger R., Pforr J., Phan K.L., Phleps S., Pichon C., Pickard R.D., Pieri M., Pogge R.W., Prada F., Price-Whelan A.M., Pâris I., Ramos B.H., Reich J., Reylé C., Richards G.T., Rix H.W., Robin A.C., Rocha-Pinto H.J., Rockosi C., Roe N.A., Rogerson J., Rollinde E., Ross A.J., Ross N., Rossetto B.M., Samsonov D., Sanchez A., Sanderson W., Saule T., Morris D.W., Morrison H., Mullally F., Munn J., Murayama H., Myers A.D., Märker M., Neto A.F., Nichol R.C., Novak R., Novák R., Ogando R.L., Ogi M., Ohshima T., Olmstead M.D., Oneil J., Otani N., Schlegel D.J., Schlesinger K.J., Seth A., Sheldon E.S., Shen Y.D., Shen Y., Shu Y.M., Simmerer J., Simmons A., Sivarani T., Sklyanov A., Smith N., Snedden A., Soares C., Sobeck J., Starkey D.A., Starr P., Vandenberg J., Vanmunster T., Vargas M.M., Verde L., Wake D., Wang J., Wang S., Wei L.S., Weinberg D.H., Witte M., Wood-Vasey W.M., Yanny B., Yasuda N., Zehavi I., Zu Y., d O., da Costa L.N., de_Miguel E., et al., imamura K., Ан Д.Ё., Андреев М.В., Бакланов А.В., Берлин А.А.

7 статей

Количество цитирований статей в журналах по данным Scopus: 719, Web of Science: 854

IstinaResearcherID (IRID): 2554313

Деятельность Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam