Kochanek C.S.

Kochanek C.S.

Соавторы: Peterson B.M., Petitjean P., Schneider D.P., Brandt N.B., Chochol D., Dawson K., Horne K., Jiang L., Maehara H., McGreer I.D., Oravetz D., Денисенко Д.В., Бизяев Д.В. показать полностью..., Paris I., Pavlenko E.P., Paxson K.B., Peters C.M., Pit N., Ponder K., Prieto J.L., Rau S., Richmond M.W., Ruiz J., Sabo R., Schmeer P., Shappee B.J., Shears J., Shiokawa K., Sjoberg G., Шугаров С.Ю., Bolt G., Brinkman J., Brownstein J.R., Buczynski D., Chen Y.H., Cook L., Crawford T., Dubois F., Dvorak S., Eftekharzadeh S., Eisenstein D.J., Fan X.D., Goff W.N., Greene E., Grier C.J., Hambsch F.J., Hirosawa K., Ho C.L., Kaneko S., Kinemuchi K., Littlefield C., Logie L., Malanushenko E., Malanushenko V., Masi G., Michel R., Modic R.J., Morelle E., Moriyama M., Mukai M., Muyllaert E., Nishimura H., Oksanen A., Antonyuk O.I., Голышева П.Ю., Stubbings R., Strauss M.A., Sosnovskij A., Stanek K.Z., Катышева Н.А., Antoniuk K., Ueda S., Ulowetz J., Trump J.R., Бабина Ю.В., Волошина И.Б., Zharikov S.V., Tordai T., Percival W.J., Pfaffenberger R., Pforr J., Phan K.L., Phleps S., Pichon C., Pickard R.D., Pieri M., Pogge R.W., Prada F., Price-Whelan A.M., Pâris I., Ramos B.H., Reich J., Reylé C., Richards G.T., Rix H.W., Robin A.C., Rocha-Pinto H.J., Rockosi C., Roe N.A., Rogerson J., Rollinde E., Ross A.J., Ross N., Rossetto B.M., Samsonov D., Sanchez A., Sanderson W., Saule T., Schlegel D.J., Schlesinger K.J., Seth A., Sheldon E.S., Shen Y.D., Shen Y., Shu Y.M., Simmerer J., Simmons A., Sivarani T., Sklyanov A., Smith N., Snedden A., Soares C., Boeche C., Bolton A., Bovy J., Brown P., Bundy K., Busca N., Campbell H.C., Canard B., Carr M., Chen Y.P., Chiappini C., Comparat J., Connolly N., Croft R.A., Cuesta A.J., Davenport J.R., Denney K.D., Dhital S., Dubovsky P.A., Ealet A., Ebelke G., Edmondson E.M., Efimov Y.S., Escoffier S., Esposito M., Evans M.L., Femenía C.B., Fernandez-Trincado J.G., Font-Ribera A., Frinchaboy P.M., Fukushima D., Gao Y., Gillespie B.A., Gilmore G., González Hernández J.I., Grebel E.K., Green P.J., Gunn J.E., Hall P.B., Hamilton J.C., Harding P., Hawley S.L., Hearty F.R., Henden A.A., Ho S., Holtzman J.A., Homayouni Y., Honscheid K., Hutchinson T., I-Hsiu L.J., Inada N., Ishibashi S., Isogai K., Itoh H., James M.N., Jin S., Johnson M.E., Kafka S., Kasai K., Kato T., Kato T., Kato T., Kawabata M., Kelly B.C., Kinoshita H., Kirkby D., Kiyota S., Klaene M.A., Knapp G.R., Koesterke L., Kojiguchi N., Kollmeier J.A., Kron R.G., Kudzej I., Lampeitl H., Le Goff J.M., Lee Y.S., Long D., Loomis C., Lucatello S., Lundgren B., Lupton R.H., Ma R., MacDonald N., Maeda K., Maeda Y., Mahadevan S., Maia M.A., Mandelbaum R., Maraston C., Margala D., Martini P., Masters K.L., Masumoto K., Matsuda R., McBride C.K., McGehee P.M., Miller I., Miralda-Escudé J., Miyashita T.a., Monard B., Morris D.W., Morrison H., Mullally F., Munn J., Murayama H., Myers A.D., Märker M., Neto A.F., Nichol R.C., Novak R., Novák R., Ogando R.L., Ogi M., Ohshima T., Pandey S., Parakhin N.A., Olmstead M.D., Oneil J., Otani N., O’Connel R., Padmanabhan N., Palanque-Delabrouille N., Bentz M.C., Blanton M., Beers T.C., Tojeiro R., Bochanski J.J., Tofflemire B.M., Aubourg É., Balbinot E., Bickerton S.J., Weinberg D.H., Wei L.S., Witte M., Yanny B., Wood-Vasey W.M., Yasuda N., Zehavi I., Голо В.Л., Starr P., Stein W., Steinmetz M., Szalay A.S., Suni M., Sobeck J., Takenaka M., ANDREEV V., Starkey D.A., Anderson S.F., Крушевская В.Н., Матсумото К., Шмидт С., Дорошенко В.Т., Хан К.Ю., Неустроев В.П., М И., Калязин Е.П., Сердан А.А., И Д., Ричардс К., Иван И.И., Vandenberg J., Vargas M.M., Wang J., Vanmunster T., Tremonti C.A., Wake D., Verde L., et al., imamura K., Берлин А.А., Aihara H., Андреев М.В., Allende P.C., Akazawa H., Zu Y., Ан Д.Ё., da Costa L.N., de_Miguel E., AlSayyad Y., d O., Бакланов А.В., Taнака M., Tao C., Tinker J., Thakar A.R., Tanabe K., Голд А., Wang S.

7 статей

Количество цитирований статей в журналах по данным Scopus: 788, Web of Science: 906

IstinaResearcherID (IRID): 2554313

Деятельность Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam