Pickard R.D.

Pickard R.D.

Соавторы: Littlefield C., Maeda Y., Itoh H., Sosnovskij A., Stein W., Dvorak S., Chochol D., Miller I., Шугаров С.Ю., Pit N., Antoniuk K., Antonyuk O.I., Cook L. показать полностью..., Kasai K., Kiyota S., Henden A.A., Masi G., Muyllaert E., Ulowetz J., Tordai T., Ohshima T., Pavlenko E.P., Oksanen A., Денисенко Д.В., Бабина Ю.В., Андреев М.В., Maehara H., Starr P., Ruiz J., Sabo R., Akazawa H., Maeda K., Schmeer P., Shears J., Bolt G., Dubovsky P.A., Kato T., Kato T., Kawabata M., Hirosawa K., Isogai K., Goff W.N., Hambsch F.J., Fukushima D., Kudzej I., Matsuda R., Monard B., Nishimura H., Morelle E., Michel R., Stubbings R., imamura K., Takenaka M., Tanabe K., de Miguel E., de_Miguel E., Vanmunster T., Ogi M., Novák R., Paxson K.B., Бакланов А.В., Stanek K.Z., Logie L., Prieto J.L., Samokhvalov A.V., Richmond M.W., Rau S., Poyner G., Sakai D., Akasaka C., MacDonald I.I., Samsonov D., Simonsen M., Sklyanov A., Shiokawa K., Satovski B.L., Sjoberg G., Shchurova A.V., Shappee B.J., Babina J., Buczynski D., Crawford T., Boyd D., Aoki T., Baklanov A., Dubois F., Dubovsky A.B., Kafka S., James M.N., Kaneko S., Kato T., Kalinicheva E.S., Kobayashi H., Kojiguchi N., Kochanek C.S., Kinoshita H., Kimura M., Krajci T., Korotkij S.A., Itagaki K., Fidrich R., Fukui A., Ishibashi S., Hautecler H., Linnolt M., Kudzej I., Kryachko T.V., Masumoto K., Nakazato T., Nakashima Y., Matsumoto K., Modic R.J., Nakagawa S., Moriyama M., Malanushenko V., Mukai M., Stockdale C., Takagi R., Ueda S., Taniuchi K., Wakabayashi Y., Zharikov S.V., Tristram P.J., de Miguel S., Yoshida S., Noguchi R., Parakhin N.A., Otani N., Ono R., Pietz J., Nocentini F., Ogura K., Nomoto T., Волошина И.Б., Голышева П.Ю., Мартинелли Ф., Э, Герке, Матсумото К., Катышева Н.А., Павленко Е.П.

5 статей

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 82, Scopus: 13

IstinaResearcherID (IRID): 3336671

Деятельность Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam