Pickard R.D.

Pickard R.D.

Соавторы: Itoh H., Littlefield C., Maeda Y., Chochol D., Dvorak S., Miller I., Sosnovskij A., Stein W., Шугаров С.Ю., Antoniuk K., Antonyuk O.I., Cook L., Henden A.A. показать полностью..., Kasai K., Kiyota S., Masi G., Pit N., Muyllaert E., Ohshima T., Oksanen A., Pavlenko E.P., Tordai T., Ulowetz J., Денисенко Д.В., Akazawa H., Bolt G., Dubovsky P.A., Fukushima D., Goff W.N., Hambsch F.J., Hirosawa K., Isogai K., Kato T., Kato T., Kawabata M., Kudzej I., Maeda K., Maehara H., Matsuda R., Michel R., Monard B., Morelle E., Ruiz J., Sabo R., Schmeer P., Shears J., Nishimura H., Novák R., Ogi M., Paxson K.B., Starr P., Stubbings R., Takenaka M., Tanabe K., Vanmunster T., de Miguel E., de_Miguel E., imamura K., Андреев М.В., Бабина Ю.В., Бакланов А.В., Akasaka C., Aoki T., Babina J., Baklanov A., Boyd D., Buczynski D., Crawford T., Dubois F., Dubovsky A.B., Fidrich R., Fukui A., Hautecler H., Ishibashi S., Itagaki K., James M.N., Kafka S., Kalinicheva E.S., Kaneko S., Kato T., Kimura M., Kinoshita H., Kobayashi H., Kochanek C.S., Kojiguchi N., Korotkij S.A., Krajci T., Kryachko T.V., Kudzej I., Linnolt M., Logie L., MacDonald I.I., Malanushenko V., Masumoto K., Matsumoto K., Modic R.J., Pietz J., Poyner G., Prieto J.L., Rau S., Richmond M.W., Sakai D., Samokhvalov A.V., Samsonov D., Satovski B.L., Shappee B.J., Shchurova A.V., Shiokawa K., Simonsen M., Sjoberg G., Sklyanov A., Moriyama M., Mukai M., Nakagawa S., Nakashima Y., Nakazato T., Nocentini F., Noguchi R., Nomoto T., Ogura K., Ono R., Otani N., Parakhin N.A., Stanek K.Z., Stockdale C., Takagi R., Taniuchi K., Tristram P.J., Ueda S., Wakabayashi Y., Yoshida S., Zharikov S.V., de Miguel S., Волошина И.Б., Герке, Голышева П.Ю., Катышева Н.А., Мартинелли Ф., Матсумото К., Павленко Е.П., Э

5 статей

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 77, Scopus: 13

IstinaResearcherID (IRID): 3336671

Деятельность Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam