Образование

Соавторы: Trump J.R., Бизяев Д.В., Grier C.J., Brandt N.B., Peterson B.M., Dawson K., Kinemuchi K., Petitjean P., Ho C.L., McGreer I.D., Schneider D.P., Eftekharzadeh S., Oravetz D., Nie J., Ponder K., Starkey D.A., Chen Y., I-Hsiu L.J., Kneib J.P., Kochanek C.S., Sanderson W., Green P.J., Greene E., Horne K., Jiang L., Oravetz A., Rogerson J., Zefeng L., Zhang T., AlSayyad Y., Assef R.J., Brinkman J., Brownstein J.R., Bundy K., Fall P., Fernandez-Trincado J.G., Fonseca A., Hernandez Santisteban J.V., Hutchinson T., Ibarra-Medel H.J., Jin S., Lejoly C., Li J., Negrete C.A., Paris I., Rossi G., Runnoe J.C., Shen Y., Trakhtenbrot B., Weijmans A.M., Bershady M., Blanton M., Breiding P., Chakraborty P., Chen Y., Chen Y.P., Dabbieri C., David S., Eracleous M., Fan X., Gao Y., Gezari S., Groller H., Guo Y., Jiang Y., Keenan R.P., Keith, Kollmeier J.A., Krumpe M., Kunnas M., Martínez-Aldama M.L., Martínez-Aldama M.L., Martínez-Aldama M.L., Peters C.M., Schneider D., Shen Y.D., Simon A., Smith N., Suni M., Temple M.J., Wei L.S., Xu J., Yue M., de la Macorra A. Показать ещё Скрыть