Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Якимов Е.Б.
Соавторы:
Pearton S.J.
,
Shchemerov I.V.
,
Лагов П.Б.
,
Поляков А.Я.
,
Chernykh A.
,
Kochkova A.
,
Vasilev A.A.
,
Смирнов Н.Б.
,
Павлов Ю.С.
,
Danilin A.B.
,
Lee I.H.
,
Ren F.
,
Бушуев В.А.
показать полностью...
,
Григорьев М.В.
,
Магомедбеков Э.П.
,
Рау Э.И.
,
Фахртдинов Р.Р.
,
Шабельникова Я.Л.
,
орлов в.и.
,
Dae-Woo J.
,
Didenko S.I.
,
Drenin A.S.
,
Garanin N.S.
,
Gorbatkova O.G.
,
In-Hwan L.
,
Khrisanov I.A.
,
Kim J.
,
Kim J.
,
Kononchuk O.V.
,
Kozhukhova E.A.
,
Krasnov A.A.
,
Kukharchuk O.F.
,
Legotin S.A.
,
Mares
,
Meshkov I.N.
,
Miliachenko A.D.
,
Minghan X.
,
Nikolaev V.I.
,
Orlov O.S.
,
Pechnikov A.
,
Pechnikov A.I.
,
Sergey Z.
,
Shcherbatchev K.D.
,
Sidorin A.A.
,
Siemek K.
,
Starkov V.V.
,
Stepanov S.I.
,
Stolbunov V.S.
,
Suvorov A.A.
,
Xian M.
,
Yang J.
,
hh h.
,
Аристов В.В.
,
Борисов С.С.
,
Зайцев С.И.
,
Иванов Е.М.
,
Кобец У.А.
,
Ларюшкин А.С.
,
Летовальцева М.Е.
,
Мурашов В.А.
,
Рабинович О.И.
,
Рогозев Б.И.
,
Соколов В.Н.
,
Федулова О.В.
,
Чеверикин В.В.
,
ред ).
15 статей
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 133, Scopus: 143
IstinaResearcherID (IRID): 1163930
Деятельность
Статьи в журналах
2023
Transport and trap states in proton irradiated ultra-thick k-Ga2O3
Polyakov A.Y.
, Nikolaev V.I.,
Pechnikov A.I.
,
Yakimov E.B.
,
Lagov P.B.
,
Shchemerov I.V.
,
Vasilev A.A.
,
Kochkova A.I.
,
Chernykh A.V.
,
Lee In-Hwan
,
Pearton S.J.
в журнале
Journal of Vacuum Science and Technology A
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 41, № 3, с. 032705-1-032705-6
DOI
2022
Point defect creation by proton and carbon irradiation of α-Ga2O3
Polyakov Alexander Y.
,
Nikolaev Vladimir I.
,
Meshkov Igor N.
,
Siemek Krzysztof
,
Lagov Petr B.
,
Yakimov Eugene B.
,
Pechnikov Alexei I.
,
Orlov Oleg S.
,
Sidorin Alexey A.
,
Stepanov Sergey I.
,
Shchemerov Ivan V.
,
Vasilev Anton A.
,
Chernykh Alexey V.
, Losev Anton A.,
Miliachenko Alexandr D.
,
Khrisanov Igor A.
,
Pavlov Yu S.
,
Kobets U.A.
,
Pearton Stephen J.
в журнале
Journal of Applied Physics
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 132, № 3, с. 035701
DOI
2021
1 GeV proton damage in β-Ga2O3
Polyakov A.Y.
,
Shchemerov I.V.
,
Vasilev A.A.
,
Kochkova A.I.
,
Smirnov N.B.
,
Chernykh A.V.
,
Yakimov E.B.
,
Lagov P.B.
,
Pavlov Yu S.
,
Ivanov E.M.
,
Gorbatkova O.G.
,
Drenin A.S.
,
Letovaltseva M.E.
,
Xian Minghan
,
Ren Fan
,
Kim Jihyun
,
Pearton S.J.
в журнале
Journal of Applied Physics
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 130, № 18
DOI
2020
Pulsed fast reactor neutron irradiation effects in Si doped n-type β-Ga2O3
Polyakov A.Y.
,
Smirnov N.B.
,
Shchemerov I.V.
,
Vasilev A.A.
,
Yakimov E.B.
,
Chernykh A.V.
,
Kochkova A.I.
,
Lagov P.B.
,
Pavlov Yuri S.
,
Kukharchuk O.F.
,
Suvorov A.A.
,
Garanin N.S.
,
In-Hwan Lee
,
Minghan Xian
,
Fan Ren
,
Pearton S.J.
в журнале
Journal of Physics D - Applied Physics
, издательство
IOP Publishing
([Bristol, UK], England)
, том 53, № 27
DOI
2018
Defects responsible for charge carrier removal and correlation with deep level introduction in irradiated β-Ga2O3
Polyakov A.Y.
,
Smirnov N.B.
,
Shchemerov I.V.
,
Yakimov E.B.
,
Pearton S.J.
,
Fares C.
,
Yang J.
,
Ren F.
,
Kim J.
,
Lagov P.B.
,
Stolbunov V.S.
,
Kochkova A.
в журнале
Applied Physics Letters
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 113, № 092102, с. 092102-1-092102-5
DOI
2017
Development of betavoltaic cell technology production based on microchannel silicon and its electrical parameters evaluation
Krasnov A.A.
,
Starkov V.V.
,
Legotin S.A.
,
Rabinovich O.I.
,
Didenko S.I.
,
Murashev V.N.
,
Cheverikin V.V.
,
Yakimov E.B.
,
Fedulova N.A.
,
Rogozev B.I.
,
Laryushkin A.S.
в журнале
Applied Radiation and Isotopes
, издательство
Pergamon Press Ltd.
(United Kingdom)
, том 121, с. 71-75
DOI
2017
Point defects controlling non-radiative recombination in GaN blue light emitting diodes: Insights from radiation damage experiments
Lee I.H.
,
Polyakov A.Y.
,
Smirnov N.B.
,
Shchemerov I.V.
,
Lagov P.B.
,
Zinov'ev R.A.
,
Yakimov E.B.
,
Shcherbachev K.D.
,
Pearton S.J.
в журнале
Journal of Applied Physics
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 122, № 11, с. 115704-1-115704-6
DOI
2017
Study of Low Voltage Prebreakdown Sites in Multicrystalline Si Based Cells by the LBIC, EL, and EDS Methods
Orlov V.I.
,
Yakimov E.B.
,
Magomedbekov E.P.
,
Danilin A.B.
в журнале
Advances in Condensed Matter Physics
, издательство
Hindawi Publishing Corporation
(United States)
, том 2017
DOI
2017
Study of short-circuits in multycrystalline Si based cells by the LBIC, EL and EDS methods
Orlov Valery I.
,
Yakimov Evgeniy B.
,
Magomedbekov Eldar P.
,
Danilin Alexey B.
в журнале
Journal of Engineering and Applied Science
, издательство
Cairo University
(Egypt)
, том 12, № 20, с. 5069-5073
2013
Properties of nanopillar structures prepared by dry etching of undoped GaN grown by maskless epitaxial overgrowth
Polyakov A.Y.,
Dae-Woo Jeon
, Govorkov A.V., Smirnov N.B.,
Sokolov V.N.
,
Kozhukhova E.A.
,
Yakimov E.B.
,
In-Hwan Lee
в журнале
Journal of Alloys and Compounds
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, № 554, с. 258-263
DOI
2012
Calculating the Extended Defect Contrast for the X-ray-Beam-Induced Current Method
Shabel’nikova Ya L.
,
Yakimov E.B.
,
Grigor’ev M.V.
,
Fahrtdinov R.R.
,
Bushuev V.A.
в журнале
Technical Physics Letters
, издательство
Pleiades Publishing, Ltd
(Road Town, United Kingdom)
, том 38, № 10, с. 913-916
DOI
2012
Расчет контраста протяженных дефектов в методе индуцированного рентгеновским пучком тока
Шабельникова Я.Л.
,
Якимов Е.Б.
,
Григорьев М.В.
,
Фахртдинов Р.Р.
,
Бушуев В.А.
в журнале
Письма в "Журнал технической физики"
, издательство
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
(Москва)
, том 38, № 20, с. 1-7
2007
EBIC measurements of small diffusion length in semiconductor structures
Yakimov E.B.
,
Borisov S.S.
,
Zaitsev S.I.
в журнале
Semiconductors
, издательство
Springer
(New York)
, том 41, № 4, с. 411-413
1998
Application of Surface Electron Beam Induced Voltage Method for the Contactless Characterization of Semiconductor Structures
Rau E.I.
, Zhukov A.N.,
Yakimov Eugene B.
в журнале
Solid State Phenomena
1990
SEM investigation of semiconductors by the capacitance techniques
Aristov Vitaly V.
,
Kononchuk Oleg V.
,
Rau Edward I.
,
Yakimov Eugeny B.
в журнале
Microelectronic Engineering
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 12, № 1-4
DOI