ИСТИНА

Белых С.Ф.

Соавторы: Иешкин А.Е., Толстогузов А.Б., Fu D.J., Дроздов М.Н., Пеленович В.О., Коробейщиков Н.Г., Mazarov P., Мяконьких А.В., Татаринцев А.А., Gololobov G.P., Zeng X.M., Zuo W., Нищак О.Ю. показать полностью..., Стрелецкий О.А., Суворов Д.В.

5 статей, 2 доклада на конференциях

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 6, Scopus: 6

IstinaResearcherID (IRID): 5350782

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2022 TOF-SIMS for carbon hybridization state analysis
    • Drozdov M.N., Ieshkin A.E., Streletskiy O.A., Nishchak O.Yu, Belykh S.F., Tolstoguzov A.
    • в журнале Carbon, издательство Pergamon Press Ltd. (United Kingdom), том 186, с. 83-90 DOI
  • 
    • 2021 Sputtering of silicon by atomic and cluster bismuth ions: An influence of projectile nuclearity and specific kinetic energy on the sputter yield
    • Tolstogouzov A., Mazarov P., Ieshkin A.E., Belykh S.F., Korobeishchikov N.G., Pelenovich V.O., Fu D.J.
    • в журнале Vacuum, издательство Elsevier Ltd (London), том 188, с. 1-4 DOI
  • 
    • 2020 Influence of the Finite-Size Effect on the Cluster Ion Emission of Silicon Nanostructures
    • Tolstoguzov A.B., Drozdov M.N., Ieshkin A.E., Tatarintsev A.A., Myakonkikh A.V., Belykh S.F., Korobeishchikov N.G., Pelenovich V.O., Fu D.J.
    • в журнале JETP Letters, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 111, № 8, с. 467-471 DOI
  • • 2020 Влияние размерного эффекта на кластерную ионную эмиссию наноструктур кремния
    • Толстогузов А.Б., Дроздов М.Н., Иешкин А.Е., Татаринцев А.А., Мяконьких А.В., Белых С.Ф., Коробейщиков Н.Г., Пеленович В.О., Фу Д.
    • в журнале Письма в "Журнал экспериментальной и теоретической физики", том 111, № 8, с. 531-535 DOI
  • 
    • 2019 Cluster secondary ion emission of silicon: an influence of the samples’ dimensional features
    • Tolstogouzov A., Drozdov M.N., Belykh S.F., Gololobov G.P., Ieshkin A.E., Mazarov P., Suvorov D.V., Fu D., Pelenovich V., Zeng X., Zuo W.
    • в журнале Rapid Communications in Mass Spectrometry, издательство John Wiley & Sons Inc. (United States), том 33, № 3, с. 323-325 DOI

• Доклады на конференциях

  • • 2020 Finite size effect in cluster ion emission of Si nanoscale samples: TOF-SIMS study (Устный)
    • Авторы: Tolstoguzov A.B., Drozdov M.N., Ieshkin A.E., Belykh S.F., Pelenovich V.O., Zuo W.B., Fu D.J.
    • Online Conference on Charged-Particle Sources & Beams (CPSB), Китай, 22 октября 2020
  • • 1968 Исследование продуктов распыления интерметаллических соединений
    • Авторы: Юрасова В.Е., Сысоев А.А., Белых С.Ф., Невзорова Л.Н.
    • XIII Всесоюзная конференция по эмиссионной электронике, Москва, Россия, 1968