ИСТИНА

Белых С.Ф.

Соавторы: Дроздов М.Н., Gololobov G.P., Zeng X.M., Zuo W., Mazarov P., Пеленович В.О., Fu D.J., Иешкин А.Е., Толстогузов А.Б., Суворов Д.В.

1 статья, 1 доклад на конференции

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 0, Scopus: 0

IstinaResearcherID (IRID): 5350782

Деятельность стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam

• Статьи в журналах

  • 
    • 2019 Cluster secondary ion emission of silicon: an influence of the samples’ dimensional features
    • Tolstogouzov A., Drozdov M.N., Belykh S.F., Gololobov G.P., Ieshkin A.E., Mazarov P., Suvorov D.V., Fu D., Pelenovich V., Zeng X., Zuo W.
    • в журнале Rapid Communications in Mass Spectrometry, издательство John Wiley & Sons Inc. (United States), том 33, № 3, с. 323-325 DOI

• Доклады на конференциях

  • • 1968 Исследование продуктов распыления интерметаллических соединений
    • Авторы: Юрасова В.Е., Невзорова Л.Н., Белых С.Ф., Сысоев А.А.
    • 13-я Всесоюзная. конференция по эмиссионной электронике, Москва, Россия, 1968