ИСТИНА

Zuo W.

Соавторы: Fu D.J., Zeng X.M., Иешкин А.Е., Пеленович В.О., Толстогузов А.Б., Gololobov G.P., Суворов Д.В., Devi N., Mazarov P., Ranjana J., Yang B., Белых С.Ф., Данилов А.В. показать полностью..., Дроздов М.Н., Черныш В.С.

4 статьи, 1 доклад на конференции

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 8, Scopus: 8

IstinaResearcherID (IRID): 156026377

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2019 Cluster secondary ion emission of silicon: an influence of the samples’ dimensional features
    • Tolstogouzov A., Drozdov M.N., Belykh S.F., Gololobov G.P., Ieshkin A.E., Mazarov P., Suvorov D.V., Fu D., Pelenovich V., Zeng X., Zuo W.
    • в журнале Rapid Communications in Mass Spectrometry, издательство John Wiley & Sons Inc. (United States), том 33, № 3, с. 323-325 DOI
  • 
    • 2019 Ion emission from solid electrolyte CsAg4Br2.68I2.32 film deposited on Ag-tip: Characteristics and applications
    • Zuo W., Pelenovich V.O., Tolstogouzov A.B., Ieshkin A.E., Zeng X., Wang Z., Gololobov G., Suvorov D., Liu C., Fu D., Hu D.
    • в журнале Vacuum, издательство Elsevier Ltd (London), том 167, с. 382-388 DOI
  • 
    • 2019 Size determination of Ar clusters formed in conical nozzles
    • Pelenovich V., Zeng X.M., Ieshkin A., Zuo W.B., Chernysh V.S., Tolstogouzov A.B., Yang B., Fu D.J.
    • в журнале Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 450, с. 131-134 DOI
  • 
    • 2019 Small Al cluster ion implantation into Si and 4H-SiC
    • Zeng X., Pelenovich V., Ieshkin A., Danilov A., Tolstogouzov A., Zuo W., Ranjana J., Devi N., Fu D., Xiao X.
    • в журнале Rapid Communications in Mass Spectrometry, издательство John Wiley & Sons Inc. (United States), том 33, № 18, с. 1449-1454 DOI

• Доклады на конференциях

  • • 2020 Finite size effect in cluster ion emission of Si nanoscale samples: TOF-SIMS study (Устный)
    • Авторы: Tolstoguzov A.B., Drozdov M.N., Ieshkin A.E., Belykh S.F., Pelenovich V.O., Zuo W.B., Fu D.J.
    • Online Conference on Charged-Particle Sources & Beams (CPSB), Китай, 22 октября 2020