ИСТИНА

Sato Yu

Соавторы: Albertazzi B., Bleiner D., Faenov A., Habara H., Harmand M., Hartely N., Inubushi Y., Ishikawa T., Kawachi T., Kodama R., Koenig M., Matsuoka T., Matsuyama S. показать полностью..., Mitrofanov A., Nishikino M., Ozaki N., Pikuz T., Tanaka K.A., Tange Y., Togashi T., Tono K., Yabashi M., Yabuuchi T., Yamauchi K., Yumoto H., Грум-Гржимайло А.Н., Muray Ricardo A.O., Muray Ricardo A.O., Vysotina N.V., Розанов Н.Н.

1 статья, 1 доклад на конференции, 1 тезисы доклада

IstinaResearcherID (IRID): 45680616

Деятельность

• Статьи в сборниках

  • • 2018 In Situ Characterization of XFEL Beam Intensity Distribution and Focusability by High-Resolution LiF Crystal Detector
    • Pikuz T., Faenov A., Matsuoka T., Albertazzi B., Ozaki N., Hartely N., Muray Ricardo Arturo O., Yabuuchi T., Habara H., Matsuyama S., Yamauchi K., Inubushi Y., Togashi T., Yumoto H., Tange Y., Tono K., Sato Y., Yabashi M., Nishikino M., Kawachi T., Mitrofanov A., Bleiner D., Grum-Grzhimailo A., Rosanov N.N., Vysotina N.V., Harmand M., Koenig M., Tanaka K.A., Ishikawa T., Kodama R.
    • в сборнике X-Ray Lasers 2016, серия Springer Proceedings in Physics, место издания Springer International Publishing, том 202, с. 109-115 DOI

• Доклады на конференциях

  • • 2017 Diagnostics of Synchrotron and XFEL intense focused beams with use of LiF crystal imaging technique (Устный)
    • Авторы: Albertazzi B., Inubushi Yu, Yabashi M., Tono K., Sato Yu, Yumoto H., Makarov S.S., Ryazantsev S.N., Faenov A.Ya, Pikuz T.A., Grum-Grzhimailo A.N., Rose M., Senkbeil T., von Gundlach Andreas, Stuhr S., Rumancev Ch, Dzhigaev D., Skopintsev P., Lazarev S., Zaluzhnyy I., Viefhaus J., Rosenhahn A., Vartaniants I., Matsuoka T., Matsuyama S., Yamauchi K., Ozaki N., Ohashi H., Nishikino M., Kawachi T., Ishikawa T., Kodama R., Pikuz S.A.
    • European XFEL Users' Meeting 2017 and DESY Photon Science Users' Meeting 2017, DESY Hamburg and European XFEL, Schenefeld, Germany, Германия, 25-27 января 2017

• Тезисы докладов

  • 
    • 2016 In Situ Characterization of XFEL Beam Intensity Distribution and Focusability by High-Resolution LiF Crystal Detector
    • Pikuz T., Faenov A., Matsuoka T., Albertazzi B., Ozaki N., Hartely N., Muray Ricardo Arturo O., Yabuuchi T., Habara H., Matsuyama S., Yamauchi K., Inubushi Y., Togashi T., Yumoto H., Tange Y., Tono K., Sato Y., Yabashi M., Nishikino M., Kawachi T., Mitrofanov A., Bleiner D., Grum-Grzhimailo A., Rosanov N.N., Vysotina N.V., Harmand M., Koenig M., Tanaka K.A., Ishikawa T., Kodama R.
    • в сборнике 15th International Conference on X-Ray Lasers 2016. Conference Program and Book of Abstracts. May 22nd - 27th, 2016 Nara Kasugano International Forum, Iraka, Japan, тезисы, с. 75-75