ИСТИНА

Mitrofanov A.

Соавторы: Albertazzi B., Bleiner D., Faenov A., Habara H., Harmand M., Hartely N., Inubushi Y., Ishikawa T., Kawachi T., Kodama R., Koenig M., Matsuoka T., Matsuyama S. показать полностью..., Nishikino M., Ozaki N., Pikuz T., Sato Y., Tanaka K.A., Tange Y., Togashi T., Tono K., Yabashi M., Yabuuchi T., Yamauchi K., Yumoto H., Грум-Гржимайло А.Н., Muray Ricardo A.O., Muray Ricardo A.O., Vysotina N.V., Розанов Н.Н.

1 статья, 2 доклада на конференциях, 1 тезисы доклада

IstinaResearcherID (IRID): 7648833

Деятельность стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam

• Статьи в сборниках

  • • 2018 In Situ Characterization of XFEL Beam Intensity Distribution and Focusability by High-Resolution LiF Crystal Detector
    • Pikuz T., Faenov A., Matsuoka T., Albertazzi B., Ozaki N., Hartely N., Muray Ricardo Arturo O., Yabuuchi T., Habara H., Matsuyama S., Yamauchi K., Inubushi Y., Togashi T., Yumoto H., Tange Y., Tono K., Sato Y., Yabashi M., Nishikino M., Kawachi T., Mitrofanov A., Bleiner D., Grum-Grzhimailo A., Rosanov N.N., Vysotina N.V., Harmand M., Koenig M., Tanaka K.A., Ishikawa T., Kodama R.
    • в сборнике X-Ray Lasers 2016, серия Springer Proceedings in Physics, место издания Springer International Publishing, том 202, с. 109-115 DOI

• Доклады на конференциях

  • • 2012 Characterizing the soft x-ray laser beams by submicron-resolution LiF detector
    • Авторы: Pikuz T., Faenov A., Fukuda Y., Tanaka M., Ishino M., Hasegawa N., Nishikino M., Ohashi H., Yabashi M., Tono K., Senba Y., Togashi T., Ishikawa T., Mitrofanov A., Vinogradov A., Astapov A., Klushin G.D., Pikuz Jr S.A., Nagorskiy N.M., Magnitskiy S.A., Pirozhkov A.S., Esirkepov T.Zh, Koga J.K., Nakamura T., Bulanov S., Hayashi Y., Kotaki H., Kato Y., Kawachi T., Kando M.
    • The 13th Symposium on Advanced Photon Research. November 15-16, 2012, Kizugawa, KPSI, Japan (Oral), Kizugawa, KPSI, Japan , Япония, 2012
  • • 2012 In situ near-field and far-field investigations of soft X-ray lasers beam properties by submicron-resolution LiF X-ray detector
    • Авторы: Pikuz T., Faenov A., Fukuda Y., Tanaka M., Ishino M., Hasegawa N., Nishikino M., Ohashi H., Yabashi M., Tono K., Senba Y., Togashi T., Ishikawa T., Mitrofanov A., Vinogradov A., Astapov A., Klushin G.D., Pikuz Jr S.A., Nagorskiy N.M., Magnitskiy S.A., Pirozhkov A.S., Esirkepov T.Zh, Koga J.K., Nakamura T., Bulanov S., Hayashi Y., Kotaki H., Kato Y., Kawachi М., Kando M.
    • Conference on High Intensity Lasers and attosecond science in Israel (CHILI2012). Tel-Aviv, December 3-5, 2012 (Poster), 2012

• Тезисы докладов

  • 
    • 2016 In Situ Characterization of XFEL Beam Intensity Distribution and Focusability by High-Resolution LiF Crystal Detector
    • Pikuz T., Faenov A., Matsuoka T., Albertazzi B., Ozaki N., Hartely N., Muray Ricardo Arturo O., Yabuuchi T., Habara H., Matsuyama S., Yamauchi K., Inubushi Y., Togashi T., Yumoto H., Tange Y., Tono K., Sato Y., Yabashi M., Nishikino M., Kawachi T., Mitrofanov A., Bleiner D., Grum-Grzhimailo A., Rosanov N.N., Vysotina N.V., Harmand M., Koenig M., Tanaka K.A., Ishikawa T., Kodama R.
    • в сборнике 15th International Conference on X-Ray Lasers 2016. Conference Program and Book of Abstracts. May 22nd - 27th, 2016 Nara Kasugano International Forum, Iraka, Japan, тезисы, с. 75-75