–
Доклады на научных конференциях
-
- 2016 Two methods of improving dopant contrast for semiconductor structures under thin surface layers in scanning electron microscope (Стендовый)
- Авторы: Rau E., Tatarintsev A., Kupreenko S., Karaulov V., Kolybin S.
- International Conference "Micro- and nanoelectronics - 2016", October 3 - 7 , 2016, Moscow-Zvenigorod, Russia, Москва- Звенигород, Россия, 3-7 октября 2016