ИСТИНА

Karaulov V.

Соавторы: Рау Э.И., Зайцев С.В., Манджиева Ю.Б., Kolybin S., Smolar V.A., Балуян Т.Г., Борзунов А.А., ЗАБРОДСКИЙ В.В., Кошев Н.А., Купреенко С.Ю., Лукьяненко Д.В., Новакова А.А., Татаринцев А.А. показать полностью..., Шерстнев Е.В., Ягола А.Г.

5 статей, 4 доклада на конференциях, 1 тезисы доклада

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 3, Scopus: 4

IstinaResearcherID (IRID): 30068285

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2019 3D surface topography imaging in SEM with improved backscattered electron detector: arrangement and reconstruction algorithm
    • Borzunov A.A., Karaulov V.Y., Koshev N.A., Lukyanenko D.V., Rau E.I., Yagola A.G., Zaitsev S.V.
    • в журнале Ultramicroscopy, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 207, с. 112830 DOI
  • 
    • 2019 Backscattered electron detector for 3D microstructure visualization in scanning electron microscopy
    • Rau E.I., Karaulov V.Yu, Zaitsev S.V.
    • в журнале Review of Scientific Instruments, издательство AIP Publishing (United States), том 90, № 2, с. 023701 DOI
  • • 2019 Угловые и энергетические характеристики обратнорассеянных электронов и их учет при трехмерной визуализации микроструктур в сканирующей электронной микроскопии
    • Забродский В.В., Зайцев С.В., Караулов В.Ю., Рау Э.И., Смоляр В.А., Шерстнев Е.В.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 83, № 11, с. 1488-1496
  • 
    • 2017 PNIPA microgel and alcian blue dye aqueous solution interaction (microscopic investigation)
    • Baluyan T.G., Novakova A.A., Mandzhieva Y.D., Karaulov V.Y.
    • в журнале Springer Proceedings in Physics, том 186, с. 41-52 DOI
  • 
    • 2017 PNIPA microgel and alcian blue dye aqueous solution interaction (microscopic investigation)Springer
    • Baluyan T.G., Novakova A.A., Mandzhieva Y.D., Karaulov V.Y.
    • в журнале Springer Proceedings in Physics, том 186, с. 41-52

• Доклады на конференциях

  • • 2020 Усовершенствованный метод визуализации 3Dтопографии микроструктур в сканирующей электронной микроскопии (Устный)
    • Авторы: Зайцев С.В., Караулов В.Ю., Рау Э.И.
    • XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии "Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарных методов исследований наноструктур и наноматериалов", Черноголовка, Россия, 7-10 сентября 2020
  • • 2018 Basic principles of non-destructive 3-D microtomography in scanning electron microscopy (Стендовый)
    • Авторы: Rau E.I., Karaulov V.Yu, Zaytsev S.V.
    • International Conference "Micro- and Nanoelectronics — 2018" (ICMNE-2018), Звенигород, Московская область, Россия, 1-5 октября 2018
  • • 2018 Определение средней энергии и коэффициента отраженных электронов в зависимости от угла их выхода (Стендовый)
    • Авторы: Рау Э.И., Смоляр В.А., Мхитарян В.М., Зайцев С.В., Караулов В.Ю.
    • XXVII Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, Россия,, Черноголовка, Россия, 27-30 августа 2018
  • • 2016 Two methods of improving dopant contrast for semiconductor structures under thin surface layers in scanning electron microscope (Стендовый)
    • Авторы: Rau E., Tatarintsev A., Kolybin S., Karaulov V., Kupreenko S.
    • International Conference "Micro- and nanoelectronics - 2016", October 3 - 7 , 2016, Moscow-Zvenigorod, Russia, Москва- Звенигород, Россия, 3-7 октября 2016

• Тезисы докладов

  • 
    • 2016 Two methods of improving dopant contrast for semiconductor structures under thin surface layers in scanning electron microscope
    • Rau E., Tatarintsev A., Kupreenko S., Karaulov V., Kolybin S.
    • в сборнике Proceedings of the International Conference "Micro- and Nanoelectronics - 2016" ICMNE - 2016 Book of abstracts, место издания ООО "МАКС Пресс" Москва, тезисы, с. P1-54-P1-54