ИСТИНА

Karaulov V.

Соавторы: Рау Э.И., Зайцев С.В., Борзунов А.А., ЗАБРОДСКИЙ В.В., Лукьяненко Д.В., Шерстнев Е.В., Ягола А.Г., Манджиева Ю.Б., Kolybin S., Smolar V.A., Балуян Т.Г., Кошев Н.А., Купреенко С.Ю. показать полностью..., Новакова А.А., Татаринцев А.А.

8 статей, 4 доклада на конференциях, 1 тезисы доклада

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 8, Scopus: 11

IstinaResearcherID (IRID): 30068285

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2021 Three-dimensional scanning electron microscopy of surface topography with consideration of the effect of the response function of the detector system
    • Borzunov A.A., Zabrodsky V.V., Zaitsev S.V., Karaulov V.Y., Lukyanenko D.V., Rau E.I., Sherstnev E.V., Yagola A.G.
    • в журнале Moscow University Physics Bulletin, издательство Allerton Press (New York, N.Y., United States), том 76, № 4, с. 209-214 DOI
  • • 2021 Трехмерная сканирующая электронная микроскопия топографии поверхности с учетом влияния функции отклика детекторной системы
    • Борзунов А.А., Забродский В.В., Зайцев С.В., Караулов В.Ю., Лукьяненко Д.В., Рау Э.И., Шерстнев Е.В., Ягола А.Г.
    • в журнале Вестник Московского университета. Серия 3: Физика, астрономия, издательство Изд-во Моск. ун-та (М.), № 4, с. 23-28
  • 
    • 2019 3D surface topography imaging in SEM with improved backscattered electron detector: arrangement and reconstruction algorithm
    • Borzunov A.A., Karaulov V.Y., Koshev N.A., Lukyanenko D.V., Rau E.I., Yagola A.G., Zaitsev S.V.
    • в журнале Ultramicroscopy, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 207, с. 112830 DOI
  • 
    • 2019 Angular and Energy Characteristics of Backscattered Electrons and Allowing for Them in the Three-Dimensional Visualization of Microstructures in Scanning Electron Microscopy
    • Zabrodsky V.V., Zaitsev S.V., Karaulov V.Yu, Rau E.I., Smolyar V.A., Sherstnev E.V.
    • в журнале Bull. Russ. Acad. Sci. Ser. Phys., том 83, с. 1357-1365 DOI
  • 
    • 2019 Backscattered electron detector for 3D microstructure visualization in scanning electron microscopy
    • Rau E.I., Karaulov V.Yu, Zaitsev S.V.
    • в журнале Review of Scientific Instruments, издательство AIP Publishing (United States), том 90, № 2, с. 023701 DOI
  • • 2019 Угловые и энергетические характеристики обратнорассеянных электронов и их учет при трехмерной визуализации микроструктур в сканирующей электронной микроскопии
    • Забродский В.В., Зайцев С.В., Караулов В.Ю., Рау Э.И., Смоляр В.А., Шерстнев Е.В.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 83, № 11, с. 1488-1496
  • 
    • 2017 PNIPA microgel and alcian blue dye aqueous solution interaction (microscopic investigation)
    • Baluyan T.G., Novakova A.A., Mandzhieva Y.D., Karaulov V.Y.
    • в журнале Springer Proceedings in Physics, том 186, с. 41-52 DOI
  • 
    • 2017 PNIPA microgel and alcian blue dye aqueous solution interaction (microscopic investigation)Springer
    • Baluyan T.G., Novakova A.A., Mandzhieva Y.D., Karaulov V.Y.
    • в журнале Springer Proceedings in Physics, том 186, с. 41-52

• Доклады на конференциях

  • • 2020 Усовершенствованный метод визуализации 3Dтопографии микроструктур в сканирующей электронной микроскопии (Устный)
    • Авторы: Зайцев С.В., Караулов В.Ю., Рау Э.И.
    • XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии "Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарных методов исследований наноструктур и наноматериалов", Черноголовка, Россия, 7-10 сентября 2020
  • • 2018 Basic principles of non-destructive 3-D microtomography in scanning electron microscopy (Стендовый)
    • Авторы: Rau E.I., Zaytsev S.V., Karaulov V.Yu
    • International Conference "Micro- and Nanoelectronics — 2018" (ICMNE-2018), Звенигород, Московская область, Россия, 1-5 октября 2018
  • • 2018 Определение средней энергии и коэффициента отраженных электронов в зависимости от угла их выхода (Стендовый)
    • Авторы: Рау Э.И., Смоляр В.А., Караулов В.Ю., Зайцев С.В., Мхитарян В.М.
    • XXVII Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, Россия, 26-30 августа 2018
  • • 2016 Two methods of improving dopant contrast for semiconductor structures under thin surface layers in scanning electron microscope (Стендовый)
    • Авторы: Rau E., Tatarintsev A., Kupreenko S., Karaulov V., Kolybin S.
    • International Conference "Micro- and nanoelectronics - 2016", October 3 - 7 , 2016, Moscow-Zvenigorod, Russia, Москва- Звенигород, Россия, 3-7 октября 2016

• Тезисы докладов

  • 
    • 2016 Two methods of improving dopant contrast for semiconductor structures under thin surface layers in scanning electron microscope
    • Rau E., Tatarintsev A., Kupreenko S., Karaulov V., Kolybin S.
    • в сборнике Proceedings of the International Conference "Micro- and Nanoelectronics - 2016" ICMNE - 2016 Book of abstracts, место издания ООО "МАКС Пресс" Москва, тезисы, с. P1-54-P1-54