Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
журнал
Индексирование: JCR (1 января 1970 г.-), Scopus (1 января 1970 г.-)
Период активности журнала: не указан
Другие названия журнала:
IEEE Trans. Instrum. and Meas
,
IEEE Trans. on Instrum. & Meas
,
IEEE Trans. on Instrum. and Meas
Издательство:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Местоположение издательства:
Piscataway, NJ, United States
ISSN:
0018-9456 (Print)
Статьи, опубликованные в журнале
2021
A monitor calibrator as a portable tool for determination of luminescent compounds
Gorbunova M.V.
,
Evstigneeva P.Yu
,
Apyari V.V.
,
Dmitrienko S.G.
в журнале
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 70
DOI
2007
Cooper pair transport in a resistor-biased Josephson junction array
Lotkhov S.V.
,
Krupenin V.A.
,
Zorin A.B.
в журнале
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 56, № 2, с. 491-494
DOI
2005
Steps towards a capacitance standard based on single-electron counting at PTB
Scherer H.
,
Lotkhov S.V.
,
G-D Willenberg
,
Zorin A.B.
в журнале
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 54, с. 666-669
2003
Progress in measurements of electron pump by means of a CCC
Feltin N.
,
Devoille L.
,
Piquemal F.
,
Lotkhov S.V.
,
Zorin A.B.
в журнале
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 52, № 4, с. 599-603
1997
Investigation of the offset charge noise in single electron tunneling devices
Wolf H.
,
Ahlers F.J.
,
Niemeyer J.
,
Scherer H.
,
Weimann T.
,
Zorin A.B.
,
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Presnov D.E.
в журнале
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 46, № 2, с. 303-306
DOI
1997
Ultimate Sensitivity of the Single Cooper Pair Tunneling Electrometer
Zorin A.B.
в журнале
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 46, № 2, с. 299-302
DOI