Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, возможность загрузки и скачивания файлов временно недоступна.
скрыть
Weimann T.
Соавторы:
Зорин А.Б.
,
Niemeyer J.
,
Scherer H.
,
Крупенин В.А.
,
Lotkhov S.V.
,
Wolf H.
,
Ahlers F.J.
,
Преснов Д.Е.
,
Kieler O.F.
,
Kleiner R.
,
Koelle D.
,
Kohlmann J.
,
Buchter A.
показать полностью...
,
Grundler D.
,
Kemmler M.
,
Morral A.F.
,
Nagel J.
,
Poggio M.
,
Rüffer D.
,
Berberich P.
,
Hinze P.
,
Huber R.
,
Pashkin Y.A.
,
Pavolotski A.B.
,
Russo-Averchi E.
,
Samwer B.W.
,
Wölbing R.
,
Xue F.
,
Zangerle H.
,
Bastian G.
,
Bennett M.R.
,
Göbel E.O.
,
Heimbach F.
,
Kleibert A.
,
Matteini F.
,
Quenter D.
,
Schulze H.
,
Singer K.E.
,
Tütüncüoglu G.
,
Weber D.P.
,
Wyss M.
,
Кузьмин Л.С.
,
Тавхелидзе А.Н.
21 статья
,
3 тезисов докладов
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 317, Scopus: 316
IstinaResearcherID (IRID): 544430
Деятельность
Статьи в журналах
2015
Magnetization reversal of an individual exchange-biased permalloy nanotube
Buchter A.
,
Wolbing R.
,
Wyss M.
,
Kieler O.F.
,
Weimann T.
,
Kohlmann J.
,
Zorin A.B.
,
Ruffer D.
,
Matteini F.
,
Tütüncüoglu G.
,
Heimbach F.
,
Kleibert A.
,
Morral A.Fontcuberta i
,
Grundler D.
,
Kleiner R.
,
Koelle D.
,
Poggio M.
в журнале
Physical Review B
, издательство
American Physical Society
(United States)
, том 92, № 21, с. 214432-1-214432-7
DOI
2013
Nanoscale multifunctional sensor formed by a Ni nanotube and a scanning Nb nanoSQUID
Nagel J.
,
Buchter A.
,
Xue F.
,
Kieler O.F.
,
Weimann T.
,
Kohlmann J.
,
Zorin A.B.
,
Rüffer D.
,
Russo-Averchi E.
,
Huber R.
,
Berberich P.
,
Morral A.Fontcuberta i
,
Grundler D.
,
Kleiner R.
,
Koelle D.
,
Poggio M.
,
Kemmler M.
в журнале
Physical Review B
, издательство
American Physical Society
(United States)
, том 88, № 6, с. 064425-1-064425-7
DOI
2013
Reversal Mechanism of an Individual Ni Nanotube Simultaneously Studied by Torque and SQUID Magnetometry
Buchter A.
,
Nagel J.
,
Rüffer D.
,
Xue F.
,
Weber D.P.
,
Kieler O.F.
,
Weimann T.
,
Kohlmann J.
,
Zorin A.B.
,
Russo-Averchi E.
,
Huber R.
,
Berberich P.
,
Morral A.Fontcuberta i
,
Kemmler M.
,
Kleiner R.
,
Koelle D.
,
Grundler D.
,
Poggio M.
в журнале
Physical Review Letters
, издательство
American Physical Society
(United States)
, том 111, № 6, с. 067202-1-067202-5
DOI
2011
Superconducting quantum interference devices with submicron Nb/HfTi/Nb junctions for investigation of small magnetic particles
Nagel J.
,
Kieler O.F.
,
Weimann T.
,
Wölbing R.
,
Kohlmann J.
,
Zorin A.B.
,
Kleiner R.
,
Koelle D.
,
Kemmler M.
в журнале
Applied Physics Letters
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 99, № 3, с. 032506-032506
DOI
2001
Four-angle evaporation method for the preparation of single electron tunneling devices
Weimann T.
,
Scherer H.
,
Krupenin V.A.
, et al.
в журнале
Microelectronic Engineering
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 57, № 8, с. 915
DOI
2001
The effect of thermal annealing on the properties of Al-AlOx-Al single electron tunneling transistors
Scherer H.
,
Weimann Th
,
Zorin A.B.
,
Niemeyer J.
в журнале
Journal of Applied Physics
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 90, № 5, с. 2528-2532
2000
All-chromium single electron tunneling devices fabricated by direct-writing multilayer technique
Scherer H.
,
Hinze P.
,
Weimann Th
,
Samwer B.W.
,
Zorin A.B.
,
Niemeyer J.
в журнале
Physica B: Condensed Matter
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 284, с. 1806-1807
1999
A Superconducting Electrometer Based on the Resitively Shunted Bloch Transistor
Lotkhov S.V.
,
Zangerle H.
,
Zorin A.B.
,
Weimann Th
,
Scherer H.
,
Niemeyer J.
в журнале
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 9, с. 3664-3667
1999
Characterization of All-chromium Tunnel Junctions and Single-electron Tunneling Devices Fabricated by Direct-writing Multilayer Technique
Scherer H.
,
Weimann Th
,
Hinze P.
,
Samwer B.W.
,
Zorin A.B.
,
Niemeyer J.
в журнале
Journal of Applied Physics
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 86, № 12, с. 6956-6964
1999
Charging and heating effects in a system of coupled single-electron devices
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Scherer H.
,
Zorin A.B.
,
Weimann Th
,
Ahlers F.J.
,
Niemeyer J.
,
Wolf H.
в журнале
Physical Review B
, издательство
American Physical Society
(United States)
, том 59, № 16, с. 10778-10784
DOI
1999
Highly sensitive electrometers based on single Cooper pair tunneling
Zorin A.B.
,
Lotkhov S.V.
,
Pashkin Yu A.
,
Zangerle H.
,
Krupenin V.A.
,
Weimann Th
,
Scherer H.
,
Niemeyer J.
в журнале
Journal of Superconductivity (Plenum)
, том 12, № 6, с. 747-755
DOI
1999
Multilayer techinque for fabricating Nb junction circuits exhibiting charging effects
Pavolotsky A.V.
,
Weimann Th
,
Scherer H.
,
Krupenin V.A.
,
Niemeyer J.
,
Zorin A.B.
в журнале
Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 17, № 1, с. 230-232
DOI
1999
Novel Method for Fabricating Deep Submicron Nb/AlOx/Nb Tunnel Junctions Based on Spin-on Glass Planarization
Pavolotsky A.B.
,
Weimann Th
,
Scherer H.
,
Niemeyer J.
,
Zorin A.B.
,
Krupenin V.A.
в журнале
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 9, № 2, с. 3251-3254
DOI
1998
A New Technology for Metallic Multilayer Single Electron Tunneling Devices
Weimann Th
,
Scherer H.
,
Wolf H.
,
Krupenin V.A.
,
Niemeyer J.
в журнале
Microelectronic Engineering
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 41, № 42, с. 559-562
DOI
1998
Quasiparticle Interference Effects in a Ballistic Superconductor-Semiconductor-Superconductor Josephson Junction
Bastian G.
,
Göbel E.O.
,
Zorin A.B.
,
Schulze H.
,
Niemeyer J.
,
Weimann T.
,
Bennett M.R.
,
Singer K.E.
в журнале
Physical Review Letters
, издательство
American Physical Society
(United States)
, том 81, № 8, с. 1686-1689
DOI
1997
Investigation of the offset charge noise in single electron tunneling devices
Wolf H.
,
Ahlers F.J.
,
Niemeyer J.
,
Scherer H.
,
Weimann T.
,
Zorin A.B.
,
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Presnov D.E.
в журнале
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 46, № 2, с. 303-306
DOI
1997
Metallic single electron devices fabricated using a multilayer technique
Weimann T.
,
Wolf H.
,
Scherer H.
,
Krupenin V.A.
,
Niemeyer J.
в журнале
Applied Physics Letters
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 71, с. 713
DOI
1996
An all-chromium single electron transistor: A possible new element of single electronics
Kuzmin L.S.
,
Pashkin Y.A.
,
Tavkhelidze A.N.
,
Ahlers F.J.
,
Weimann T.
,
Quenter D.
,
Niemeyer J.
в журнале
Applied Physics Letters
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 68, № 20, с. 2902-2904
DOI
1996
Charge state instabilities in the single-electron trap
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Presnov D.E.
,
Zorin A.B.
,
Ahlers F.J.
,
Niemeyer J.
,
Scherer H.
,
Weimann T.
,
Wolf H.
в журнале
Czechoslovak Journal of Physics
, издательство
Kluwer Academic/Plenum Publishers
(United States)
, том 46, № 4, с. 2283-2284
DOI
1996
Detection of the single electron tunneling noise using Coulomb blockade electrometer
Zorin A.B.
,
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Niemeyer J.
,
Presnov D.E.
,
Scherer H.
,
Wolf H.
,
Ahlers F.J.
,
Weimann T.
в журнале
Czechoslovak Journal of Physics
, издательство
Kluwer Academic/Plenum Publishers
(United States)
, том 46, № 4, с. 2281-2282
DOI
Статьи в сборниках
1996
Investigation of the offset charge noise in single electron tunneling devices
Ahlers F.J.
,
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Niemeyer J.
,
Presnov D.E.
,
Scherer H.
,
Weimann T.
,
Wolf H.
,
Zorin A.B.
в сборнике
CPEM (Conference on Precision Electromagnetic Measurements) Digest. Proceedings of the 1996 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (17-20 June 1996, Braunschweig, Germany)
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, с. 507-508
DOI
Тезисы докладов
1996
Charge state instabilities in the single-electron trap
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Presnov D.E.
,
Zorin A.B.
,
Ahlers F.J.
,
Niemeyer J.
,
Scherer H.
,
Weimann T.
,
Wolf H.
в сборнике
Abstracts of the 21st International Conference on Low Temperature Physics
, место издания
Prague, Czech Republic, 8-14 August
, тезисы, с. 308
1996
Detection of the single-electron tunneling noise using Coulomb blockade electrometer
Zorin A.B.
,
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Niemeyer J.
,
Presnov D.E.
,
Scherer H.
,
Wolf H.
,
Ahlers F.J.
,
Weimann T.
в сборнике
Abstracts of the 21st International Conference on Low Temperature Physics
, место издания
Prague, Czech Republic, 8-14 August
, тезисы, с. 308
1996
Verification of a memory cell based on a single electron trap
Krupenin V.A.
,
Lotkhov S.V.
,
Presnov D.E.
,
Wolf H.
,
Ahlers F.J.
,
Niemeyer J.
,
Scherer H.
,
Weimann T.
,
Zorin A.B.
в сборнике
Abstracts of IX Trilateral German - Russian - Ukrainian Seminar on High-Temperature Superconductivity
, место издания
Gabelbach Germany, 22-25 September
, тезисы, с. 22