|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Abstr. 6th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging “XTOP-2002”сборник
- Год издания: 2002
- Место издания: Grenoble and Aussois, France
- Сборник тезисов
- Добавил в систему: Орешко Алексей Павлович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2002 Characterization of ultrathin amorphous and crystalline films by means of specular reflection under grazing-incidence X-ray diffraction conditions
- Mukhamedzhanov E.Kh, Imamov R.M., Bushuev V.A., Oreshko A.P.
- в сборнике Abstr. 6th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging “XTOP-2002”, место издания Grenoble and Aussois, France, тезисы, с. 175-175