|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Characterization of ultrathin amorphous and crystalline films by means of specular reflection under grazing-incidence X-ray diffraction conditionsтезисы доклада
- Авторы: Mukhamedzhanov E.Kh, Imamov R.M., Bushuev V.A., Oreshko A.P.
- Сборник: Abstr. 6th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging “XTOP-2002”
- Тезисы
- Год издания: 2002
- Место издания: Grenoble and Aussois, France
- Первая страница: 175
- Последняя страница: 175
- Добавил в систему: Орешко Алексей Павлович