Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry
сборник
Год издания:
2003
Место издания:
Vena
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Тихонравов Александр Владимирович
Статьи, опубликованные в сборнике
2003
Accurate determination of lanthanum fluoride refractive index by spectroscopic ellipsometry
Tikhonravov AV
,
Trubetskov MK
,
Kokarev MA
,
Tikhonravov AA
,
Masetti E.
,
Krasilnikova A.V.
в сборнике
3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry
, место издания
Vena
, тезисы
2003
Comparative investigation of thin film surface roughness by atomic force microscopy and spectroscopic ellipsometry
Tikhonravov AV
,
Trubetskov MK
,
Kokarev MA
,
Tikhonravov A.A.
,
Duparré A.
,
Flemming M.
,
Masetti E.
,
Krasilnikova and A.V
в сборнике
3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry
, место издания
Vena
, тезисы