|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Comparative investigation of thin film surface roughness by atomic force microscopy and spectroscopic ellipsometryтезисы доклада
- Авторы: Tikhonravov AV, Trubetskov MK, Kokarev MA, Tikhonravov A.A., Duparré A., Flemming M., Masetti E., Krasilnikova and A.V
- Сборник: 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry
- Тезисы
- Год издания: 2003
- Место издания: Vena
- Добавил в систему: Тихонравов Александр Владимирович