Book of abstract. International Conference "Micro- and nanoelectronics - 2005"сборник
Статьи, опубликованные в сборнике
-
-
2005
Optical, electrical and photoelectrical characterization of PECVD nanocrystalline silicon thin films
-
Kazanskii A.G.,
Khomich A.A.,
Sazonov A.,
Rad M.R.E,
Lee C.H.,
Nathan A.,
Kovalev V.I.,
Rukovishnikov A.I.
-
в сборнике Book of abstract. International Conference "Micro- and nanoelectronics - 2005", место издания Zvenigorod, тезисы, с. 35-35