|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Optical, electrical and photoelectrical characterization of PECVD nanocrystalline silicon thin filmsтезисы доклада
- Авторы: Kazanskii A.G., Khomich A.A., Sazonov A., Rad M.R.E, Lee C.H., Nathan A., Kovalev V.I., Rukovishnikov A.I.
- Сборник: Book of abstract. International Conference "Micro- and nanoelectronics - 2005"
- Тезисы
- Год издания: 2005
- Место издания: Zvenigorod
- Первая страница: 35
- Последняя страница: 35
- Добавил в систему: Казанский Андрей Георгиевич