Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Krasin George K.
Krasin George K.
IstinaResearcherID (IRID): 816234402
–

Статьи в журналах

    • 2026 Time-resolved non-contact THz diagnostics of impurity state in different sulfur-implanted/laser-annealed silicon samples
    • Kudryashov Sergey I., Podlesnykh Ivan M., Dravin Valery A., Kovalev Michael S., Chizhov Pavel A., Bulgakova Vladislava V., Ushakov Alexander A., Goncharov Yury G., Krasin George K., Kuzmin Evgeny V., Bondarenko Anastasiya G., Maslov Pavel A., Orekhov Nikita D.
    • в журнале Journal of Chemical Physics, издательство AIP Publishing (United States), том 164, № 13 DOI

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь