Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, возможность загрузки и скачивания файлов временно недоступна.
скрыть
Lomayev I.L.
Соавторы:
Ломаева С.Ф.
1 статья
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 0
IstinaResearcherID (IRID): 60031296
Деятельность
Статьи в журналах
2003
Application of AFM and XPS in measuring thickness of surface coatings for nanostructured materials
Lomayeva S.F.
,
Lomayev I.L.
в журнале
PHYSICS OF LOW-DIMENSIONAL STRUCTURES
, том 3, с. 175-182