Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Karpets M.L.
Соавторы:
Kosiachkin Y.N.
,
Аксенов В.Л.
,
Тропин Т.В.
1 статья
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 0
IstinaResearcherID (IRID): 416398485
Деятельность
Статьи в журналах
2021
X-Ray Reflectometry for Comparison of Structural Organization of Fullerenes C60/C70 in Polystyrene Thin Films
Tropin T.V.
,
Karpets M.L.
,
Kosiachkin Ye
,
Aksenov V.L.
в журнале
Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
, издательство
Pleiades Publishing, Ltd
(Road Town, United Kingdom)
, том 15, № 4, с. 768-772
DOI