Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Güttler B.
Соавторы:
Gorbenko O.Y.
,
Wahl G.
,
Zandbergen H.W.
,
Амеличев В.А.
,
Новожилов М.А.
1 статья
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 3
IstinaResearcherID (IRID): 33922190
Деятельность
Статьи в журналах
1999
Application of Raman spectrometry for the characterization of complex oxide thin films grown by MOCVD
Güttler B.
,
Gorbenko O.Yu
,
Novozhilov M.A.
, Samoilenkov S.V.,
Amelichev V.A.
,
Wahl G.
,
Zandbergen H.W.
в журнале
JOURNAL DE PHYSIQUE
, том 9, № PR8, с. Pr8-1179–Pr8–1186