|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Касумов Ю.Н.
Соавторы: Козлов С.Н., Потапов А.Ю., Супрунов В.В., Щеблыкин Ю.В., Невзоров А.Н.
13 статей, 6 докладов на конференциях, 1 тезисы доклада, 1 диссертация
Количество цитирований статей в журналах по данным
Web of Science: 1
IstinaResearcherID (IRID): 17024570
Деятельность
-
Статьи в журналах
-
- 1993 Изменение электрофизических параметров системы кремний-оксид-металл при инжекционной деградации
- Касумов Ю.Н., Козлов С.Н.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 22, № 2, с. 20-26
-
- 1990 Деградация структур кремний-оксид-металл при электронном облучении и инжекции горячих электронов из кремния
- Касумов Ю.Н., Козлов С.Н., Невзоров А.Н.
- в журнале Вестник Московского университета. Серия 3: Физика, астрономия, издательство Изд-во Моск. ун-та (М.), том 31, № 2, с. 86-90
-
- 1989 Влияние инжекции электронов из кремния в оксид на электрическую нестабильность МДП-структур
- Касумов Ю.Н., Козлов С.Н.
- в журнале Вестник Московского университета. Серия 3: Физика, астрономия, издательство Изд-во Моск. ун-та (М.), том 30, № 4, с. 73-77
-
-
- 1988 Об энергетической диаграмме системы германий - окисел
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н.
- в журнале Поверхность. Физика, химия, механика, № 3, с. 78-81
-
- 1988 Радиационно-стимулированная генерация термостабильных электрически-активных дефектов оксиде кремния
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Щеблыкин Ю.В.
- в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 17, № 6, с. 548-553
-
-
Статьи в сборниках
-
- 1990 Инжекционно-стимулированное дефектообразование в системе кремний - двуокись кремния
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Супрунов В.В.
- в сборнике Сб. Трудов 15 семинара северо-западного региона"Физические и химические явления на поверхности полупроводников и границах раздела", место издания Новгород, с. 15-16
-
- 1990 О механизме накопления радиационно-индуцированного заряда в окисном слое МДП-транзисторов на основе кремния
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Щеблыкин Ю.В.
- в сборнике Автоматика и вычислитеьная техника в производстве, место издания Изд-во МИИСП Москва, с. 61-67
-
- 1988 Генерация дефектов в системе кремний - окисел под действием горячих электронов
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Потапов А.Ю.
- в сборнике Сборник трудов 9 Всесоюзного симпозиума "Электронные процессы на поверхности и в тонких слоях полупроводников", место издания Новосибирск, том 2, с. 14-15
-
- 1988 Дефектообразование на границе раздела кремний-оксид в процессе лавинной инжекции электронов
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Потапов А.Ю.
- в сборнике Электрическая релаксация в элементах микросхем, место издания Изд-во МИЭМ Москва, с. 72-78
-
- 1988 Лавинно-инжекционная диагностика стабильности МДП-структур
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Потапов А.Ю.
- в сборнике Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, место издания Изд-во Рязанского технологического ин-та Рязань, том 2, с. 67-70
-
- 1987 Генерация электронных состояний в двуокиси кремния в процессе инжекции носителей заряда из кремния
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н.
- в сборнике Труды 2 Всесоюзной конференции "Физика окисных пленок", место издания Изд-во Петрозаводского госунивенситета Петрозаводск, с. 7-8
-
- 1987 Генерация дефектов в системе кремний - двуокись кремния в процессе лавинной инжекции электронов
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Потапов А.Ю.
- в сборнике Труды 5 республиканской конференции "Физические проблемы МДП - интегральной электроники", место издания Изд-во АН УССР Киев, с. 102-103
-
-
Доклады на конференциях
-
- 1988 Генерация дефектов в системе кремний-оксид под действием горячих электронов (Устный)
- Авторы: Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Невзоров А.Н., Потапов А.Ю.
- 9 Всесоюзный симпозиум "Электронные процессы на поверхности и в тонких слоях полупроводников", Новосибирск, Россия, 13-17 июня 1988
-
- 1988 Лавинно-инжекционная диагностика стабильности МДП - структур (Устный)
- Авторы: Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Потапов А.Ю.
- Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, Рязань, Россия, 6-10 июня 1988
-
- 1987 Лавинно-инжекционная диагностика стабильности МДП - структур (Устный)
- Авторы: Козлов С.Н., Потапов А.Ю., Касумов Ю.Н.
- 4 Всесоюзный научно-технический семинар "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", Москва, Россия, 15-19 июня 1987
-
- 1987 Генерация электронных состояний в двуокиси кремния в процессе инжекции носителей заряда из кремния (Устный)
- Авторы: Козлов С.Н., Касумов Ю.Н.
- Всесоюзная конференция "Физика окисных пленок", Петрозаводск, Россия, 8-12 июня 1987
-
Тезисы докладов
-
- 1989 Лавинно-инжекционная методика тестирования радиационной стойкости МДП-структур
- Козлов С.Н., Касумов Ю.Н., Супрунов В.В.
- в сборнике Тезисы 1 Международного совещания стран СЭВ "Радиационная физика твердого тела", серия Радиационная физика твёрдого тела, место издания Сочи, тезисы, с. 71-71
-
-
Диссертация
-
- 1990 Воздействие горячих носителей заряда на дефектообразование в диэлектрическом слое МДП-структур
- Кандидатская диссертация по специальности 01.04.10 - Физика полупроводников (физ.-мат. науки)
- Автор: Касумов Ю.Н.
- Научный руководитель: Козлов С.Н., д.ф.-м.н., проф., МГУ имени М.В. Ломоносова
- Защищена в совете К 053.05.20 при МГУ им М.В.Ломоносова при МГУ имени М.В. Ломоносова
-