ИСТИНА

Bukharaev A.A.

Соавторы: Бедин С.А., Загорский Д.Л., Лядов Н.М., Пятаков А.П., Фетисов Ю.К., Хайбуллин Р.И., Cohen S.R., Doludenko I.M., Markiewicz P., Ovchinnikov D.V., Zvezdin A.K., Долуденко И.М., Звездин А.К.

6 статей

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 89, Scopus: 129

IstinaResearcherID (IRID): 1205459

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2018 Magnetic force microscopy of iron and nickel nanowires fabricated by the matrix synthesis technique
    • Bizyaev D.A., Bukharaev A.A., Khaibullin R.I., Lyadova N.M., Zagorskii D.L., Bedin S.A., Doludenko I.M.
    • в журнале Russian Microelectronics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 47, № 3, с. 187-196 DOI
  • 
    • 2018 Straintronics: a new trend in micro- and nanoelectronics and material science
    • Bukharaev A.A., Zvezdin A.K., Pyatakov A.P., Fetisov Yu K.
    • в журнале Physics Uspekhi, издательство Russian Academy of Sciences (Russian Federation), том 61, № 12, с. 1175-1212 DOI
  • • 2018 Магнитно-силовая микроскопия нанопроволок железа и никеля, полученных методом матричного синтеза
    • Бизяев Д.А., Бухараев А.А., Хайбуллин Р.И., Лядов Н.М., Загорский Д.Л., Бедин С.А., Долуденко И.М.
    • в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 47, № 3, с. 212-221 DOI
  • • 2018 Стрейнтроника — новое направление микро-, наноэлектроники и науки о материалах
    • Бухараев А.А.
    • в журнале Успехи физических наук, издательство Наука (М.), том 188, № 12, с. 1288-1330
  • 
    • 2018 Стрейнтроника — новое направление микро-, наноэлектроники и науки о материалах
    • Бухараев А.А., Звездин А.К., Пятаков А.П., Фетисов Ю.К.
    • в журнале Успехи физических наук, издательство Наука (М.), том 188, № 12, с. 1288-1330 DOI
  • 
    • 1999 Spm tip visualization through deconvolution using various characterizers: optimization of the protocol for obtaining true surface topography from experimentally acquired images
    • Markiewicz P., Cohen S.R., Efimov A., Ovchinnikov D.V., Bukharaev A.A.
    • в журнале Probe Microscopy, том 1, с. 355