|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
SEM investigation of semiconductors by the capacitance techniquesстатья
- Авторы: Aristov Vitaly V., Kononchuk Oleg V., Rau Edward I., Yakimov Eugeny B.
- Журнал: Microelectronic Engineering
- Том: 12
- Номер: 1-4
- Год издания: 1990
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- DOI: 10.1016/0167-9317(90)90031-N
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович