Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Application of Surface Electron Beam Induced Voltage Method for the Contactless Characterization of Semiconductor Structures
статья
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Авторы:
Rau E.I.
, Zhukov A.N.,
Yakimov Eugene B.
Журнал:
Solid State Phenomena
Год издания:
1998
Добавил в систему:
Рау Эдуард Иванович