|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Application of Surface Electron Beam Induced Voltage Method for the Contactless Characterization of Semiconductor Structuresстатья
- Авторы: Rau E.I., Zhukov A.N., Yakimov Eugene B.
- Журнал: Solid State Phenomena
- Год издания: 1998
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович