Analysis of two methods of measurement of surface potential of insulators in SEM: electron spectroscopy and X-ray spectroscopy methodsстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 16 ноября 2017 г.

Работа с статьей


[1] Analysis of two methods of measurement of surface potential of insulators in sem: electron spectroscopy and x-ray spectroscopy methods / M. Belhaj, O. Jbara, M. N. Filippov et al. // Applied Surface Science. — 2001. — Vol. 177, no. 1-2. — P. 58–65.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть