|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Comprehensive analysis of field-electron emission properties of nanosized silicon blade-type and needle-type field emittersстатья
- Авторы: Demin G.D., Djuzhev N.A., Filippov N.A., Glagolev P.Y., Evsikov I.D., Patyukov N.N.
- Журнал: Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics
- Том: 37
- Номер: 2
- Год издания: 2019
- Добавил в систему: Демин Глеб Дмитриевич