Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Model-independent X-ray reflectometry analysis of phospholipid thin films on liquid substrates
тезисы доклада
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
,
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 8 декабря 2019 г.
Авторы:
Volkov Yu
,
Tikhonov F.
,
Asadchikov V.
,
Roshchin B.
,
Honkimaki V.
, Blanco M.
Сборник:
20-th International School on Condensed Matter Physics. IOP Conf.Series: Journal of Physics: Conf.Series
Том:
1186
Тезисы
Год издания:
2019
Первая страница:
012010
Последняя страница:
012010
DOI:
10.1088/1742-6596/1186/1/012010
Добавил в систему:
Львов Кирилл Вячеславович