Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
20-th International School on Condensed Matter Physics. IOP Conf.Series: Journal of Physics: Conf.Series
сборник
Год издания:
2019
Том:
1186
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Львов Кирилл Вячеславович
Статьи, опубликованные в сборнике
2019
Model-independent X-ray reflectometry analysis of phospholipid thin films on liquid substrates
Volkov Yu
,
Tikhonov F.
,
Asadchikov V.
,
Roshchin B.
,
Honkimaki V.
, Blanco M.
в сборнике
20-th International School on Condensed Matter Physics. IOP Conf.Series: Journal of Physics: Conf.Series
, том 1186, тезисы, с. 012010-012010
DOI