Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ SIO2/SI, ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНО ИМПЛАНТИРОВАННОЙ ИОНАМИ 64ZN+ И 16О+ И ТЕРМООБРАБОТАННОЙ В НЕЙТРАЛЬНО-ИНЕРТНОЙ СРЕДЕ
статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Авторы:
Привезенцев В.В.,
Куликаускас В.С.
,
Затекин В.В.
, Зиненко В.И., Агафонов Ю.А., Егоров В.К., Штейнман Э.А., Терещенко А.Н., Щербачев К.Д.
Журнал:
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
Номер:
5
Год издания:
2019
Издательство:
ФГБУ "Издательство "Наука"
Местоположение издательства:
Москва
Первая страница:
29
Последняя страница:
34
Добавил в систему:
Затекин Владимир Витальевич