ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по наиболее актуальным проблемам изучения поверхностных явлений.
К ним относятся вопросы, связанные со структурой, свойствами, методами получения и исследования поверхности, тонких пленок и границ раздела. Особое внимание уделяется использованию рентгеновских, синхротронных и нейтронных методов анализа.