|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Small Al cluster ion implantation into Si and 4H-SiCстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus,
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 сентября 2019 г.
- Авторы: Zeng X., Pelenovich V., Ieshkin A., Danilov A., Tolstogouzov A., Zuo W., Ranjana J., Devi N., Fu D., Xiao X.
- Журнал: Rapid Communications in Mass Spectrometry
- Том: 33
- Номер: 18
- Год издания: 2019
- Издательство: John Wiley & Sons Inc.
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 1449
- Последняя страница: 1454
- DOI: 10.1002/rcm.8489
- Добавил в систему: Иешкин Алексей Евгеньевич