Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Воздействие рентгеновского излучения и повышенной температуры на МОП-транзисторы с КНИ структурой
тезисы доклада
Тезисы
Авторы:
Мурашев В.Н.
,
Ладыгин Е.А.
,
Лагов П.Б.
, Алексеев А.Е., Вавилов В.А.
Сборник:
Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2000»
Серия:
РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
Том:
3
Тезисы
Год издания:
2000
Место издания:
СПЭЛС Москва
Первая страница:
5
Последняя страница:
5
Аннотация:
стр
Добавил в систему:
Лагов Петр Борисович