Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
A method of determining the distribution of photoconductivity and its relaxation time over the semiconductor wafer thickness
статья
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 20 апреля 2016 г.
Авторы:
Koshelev O.G.
, Guseva E.A.
Журнал:
Moscow University Physics Bulletin
Том:
62
Номер:
3
Год издания:
2007
Издательство:
Allerton Press
Местоположение издательства:
New York, N.Y., United States
Первая страница:
193
Последняя страница:
197
DOI:
10.3103/S0027134907030150
Добавил в систему:
Кошелев Олег Григорьевич