Spm tip visualization through deconvolution using various characterizers: optimization of the protocol for obtaining true surface topography from experimentally acquired imagesстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.

Работа с статьей


[1] Spm tip visualization through deconvolution using various characterizers: optimization of the protocol for obtaining true surface topography from experimentally acquired images / P. Markiewicz, S. R. Cohen, A. Efimov et al. // Probe Microscopy. — 1999. — Vol. 1. — P. 355.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть