Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Исследование микровключений в профилированных кристаллах сапфира
статья
Авторы:
Бородин А.В., Бородин В.А.,
Искоростинская В.Е.
,
Стериополо Т.А.
, Ходос И.И.,
Некрасов А.Н.
Журнал:
Материалы Электронной техники
Номер:
2
Год издания:
2010
Первая страница:
29
Последняя страница:
33
Добавил в систему:
Некрасов Алексей Николаевич