|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Параметры пористых наноструктур по данным малоуглового рассеяния в методе трехкристальной рентгеновской дифрактометрии. доклад на конференции
- Авторы: Ломов А.А., Караванский В.А., Бушуев В.А.
- Конференция : Тез. докл. Всероссийской научно-технической конференции “Микро- и наноэлектроника-98”. Звенигород. 1998. C. P 2-59.
- Даты проведения конференции: 1998
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Звенигород, Россия, Russia
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич