ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Были представлены доклады ведущих российских и японских специалистов об использовании современных методов структурного анализа, включая использование рентгеновского, синхротронного, нейтронного излучений и электронной микроскопии в современном материаловедении.