,Materials of the 7 International Scientific Seminar and of the 5 International Scientific School-Seminar "Modern methods of diffraction data analysis and actual problems of x-ray optics", p.34, 24–29 August 2015сборник

Статьи, опубликованные в сборнике Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam