Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
SPIE Proc
сборник
Год издания:
2013
Серия:
Optical Manufacturing and Testing X
Том:
8838
Место издания:
SPIE Press Bellingham WA, USA
Добавил в систему:
Лопушенко Владимир Васильевич
Статьи, опубликованные в сборнике
2013
Calculating BTDF from window surface roughness
Stover J.C.
,
Lopushenko V.
,
Tayabaly K.
,
Church E.
в сборнике
SPIE Proc
, серия
Optical Manufacturing and Testing X
, место издания
SPIE Press Bellingham WA, USA
, том 8838, с. 88380401-88380406
DOI