Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
сборник
Год издания:
2013
Место издания:
ИПТМ РАН Черноголовка
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Кнотько Александр Валерьевич
Статьи, опубликованные в сборнике
Страницы: << предыдущая
следующая >>
2013
Возможные причины противоречий в определении некоторых параметров зарядки диэлектрических мишеней
Гостев А.В.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 88
2013
Изучение коррозии в мерзлых грунтах методами растровой электронной микроскопии
Курчатова А.Н.
,
Рогов В.В.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 406-407
2013
Использование методов сканирующей электронной микроскопии для исследований поверхности листьев Alnus glutinosa и Alnus incana (Betulaceae
Шибзухова К.А.
,
Рябченко А.С.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 508-510
2013
Исследование в РЭМ натуральных дефектов в монокристаллах KYF10:Er3+, определяющих их люминесцентные свойства
Девяткова К.М.
,
Тверской В.Б.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 98-99
2013
Исследование структуры силоксан-уретановых блок-сополимеров методами СЭМ и АСМ
Волков И.О.
,
Филимонова Л.В.
,
Анисимов А.А.
,
Бурмистров А.А.
,
Синицына О.В.
,
Яминский И.В.
,
Макарова Л.И.
,
Завин Б.Г.
,
Белавцева Е.М.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 356
2013
Исследование характеристик системы нанопор в структуре SiO2/Si, полученных методом имплантации ионами цинка
Привезенцев В.В.
, Петров Д.В.,
Соколов В.Н.
,
Разгулина О.В.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 402-403
2013
Количественный анализ микроструктуры горных пород комплексом РЭМ - рентгеновский компьютерный томограф
Соколов В.Н.
,
Юрковец Д.И.
,
Чернов М.С.
,
Разгулина О.В.
,
Булыгина Л.Г.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 414-415
2013
Комплексная обработка поверхности базальтового стекловолокна как путь управления микроструктурой армированных им стеклофиброцементных композитов
Кнотько А.В.
,
Судьин В.В.
,
Гаршев А.В.
,
Путляев В.И.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 370-371
2013
Метод получения объемных характеристик микроструктуры в РЭМ по сериям дефокусированных изображений и стереоизображениям
Соколов В.Н.
,
Разгулина О.В.
,
Юрковец Д.И.
,
Чернов М.С.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 412-412
2013
Отклонение электронного пучка, вызванное зарядкой диэлектрических пленок на проводящей подложке
Князев М.А.
,
Рау Э.И.
,
Свинцов А.А.
,
Татаринцев А.А.
, Зайцев С.И.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 116
Страницы: << предыдущая
следующая >>