Proceedings of SPIE, Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies - сборник | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

Proceedings of SPIE, Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologiesсборник

Год издания: 2003
Том: 5188
Сборник тезисов
Добавил в систему: Тихонравов Александр Владимирович

Статьи, опубликованные в сборнике

- 2003 On the accuracy of optical thin film parameter determination based on spectrophotometric data
- Trubetskov A.Tikhonravov M, DeBell G.
- в сборнике Proceedings of SPIE, Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies, том 5188, тезисы, с. 190-199 DOI
- 2003 Reliable determination of wavelength dependence of thin film refractive index
- Tikhonravov A., Trubetskov M., Amotchkina T., Andrei Tikhonravov, Ristau D., Gunster S.
- в сборнике Proceedings of SPIE, Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies, том 5188, тезисы, с. 331-342 DOI