Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)»
сборник
Год издания:
2008
Место издания:
г. Великий Новгород
Добавил в систему:
Андреева Марина Алексеевна
Статьи, опубликованные в сборнике
2008
Рентгеновская резонансная рефлектометрия с использованием поляризованного СИ как метод исследования магнитных мультислоев
Андреева М.А.
,
Смехова А.Г.
,
Рогалев А.
в сборнике
Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)»
, место издания
г. Великий Новгород
, с. 62-65
2008
Рентгеновская флуоресценция в условиях резонансного возбуждения в скользящей геометрии
Андреева М.А.
,
Одинцова Е.E.
,
Смехова А.Г.
в сборнике
Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)»
, место издания
г. Великий Новгород
, с. 60-61
2008
Стоячие волны в селективных по глубине исследованиях сверхтонких взаимодействий
Андреева М.А.
,
Грибова А.Д.
,
Gupta A.
в сборнике
Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)»
, место издания
г. Великий Новгород
, с. 55-57