Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии. 30 мая – 3 июня 2016г. г. Москва Зеленоград. Тезисы докладов
сборник
Год издания:
2016
Том:
1
Место издания:
ИПТМ РАН г. Москва Зеленоград
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Купреенко Степан Юрьевич
Статьи, опубликованные в сборнике
2016
Микроскопическое исследование морфологии поверхности трещин эпоксидной матрицы, модифицированной полисульфоном и фурфурол-ацетоновой смолой
Багров Д.В.
,
Горощенко Н.А.
,
Солодилов В.И.
,
Бессонов И.В.
в сборнике
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии. 30 мая – 3 июня 2016г. г. Москва Зеленоград. Тезисы докладов
, место издания
ИПТМ РАН г. Москва Зеленоград
, том 1, тезисы, с. 386-387
2016
Особенности кинетики зарядки различных модификаций диэлектрика Al2O3 (сапфира, поликристалла, керамики) при электроном облучении
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
,
Хайдаров А.А.
в сборнике
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии. 30 мая – 3 июня 2016г. г. Москва Зеленоград. Тезисы докладов
, место издания
ИПТМ РАН г. Москва Зеленоград
, том 1, тезисы, с. 224-226
2016
Особенности структурообразования монокристаллов KY3F10, активированных ионами иттербия переменной валентности, обнаруживаемые при исследовании в РЭМ. Тезисы докладов XXVI Российской конференции по электронной микроскопии
Деваяткова Л.И.
,
Тверской В.Б.
в сборнике
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии. 30 мая – 3 июня 2016г. г. Москва Зеленоград. Тезисы докладов
, место издания
ИПТМ РАН г. Москва Зеленоград
, том 1, тезисы, с. 184-185
2016
Профилометрия рельефа поверхности с помощью отфильтрованных по энергии вторичных и отражённых электронов в сканирующем электронном микроскопе
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
,
Купреенко С.Ю.
,
Зайцев С.В.
,
Балакин Д.А.
в сборнике
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии. 30 мая – 3 июня 2016г. г. Москва Зеленоград. Тезисы докладов
, место издания
ИПТМ РАН г. Москва Зеленоград
, том 1, тезисы, с. 226-227