Образование

Соавторы: Meyer M., Costello J.T., Кабачник Н.М., Грум-Гржимайло А.Н., Грызлова Е.В., Kazansky A.K., Mazza T., Radcliffe P., Ilchen M., Cubaynes D., Dardis J., Erk B., Feldhaus J., Kennedy E.T., Manschwetus B., Maquete A., Redlin H., Rompotis D., Taieb R., Страхова С.И., Azima A., Boll R., Devetta M., Finetti P., Glijer D., Grazioli C., Kelly T.J., Li W.B., Ovcharenko Y., Passow C. Plekan O. Prince K.C. Демидович А.К. Bolognesi P. Bomme C. Callegari C. Coreno M. Danailov M.B. De Fanis A. De Ninno G. Delserieys A. Di F.M. Johnsson P. Kavanagh K. Lewis C.L. Luna H. Lyamayev V. Mahne N. O’Keeffe P. Pedregosa G.J. Rafipoor A.J. Raimondi L. Richter R. Stienkemeier F. Svetina C. Ueda K. Varvarezos L. Yeates P. Allum F. Avaldi L. Avaldi L. Bari S. Brouard M. Cavalieri A.L. Chopra P. Grguras I. Gruet S. Hartmann G. Hartmann G. Hayden P. He L. Heathcote D. Hough P. Ivanov R.A. Johansson P. Johny M. Kazansky A.K. Kazemi M.M. Köckert H. Küpper J. Lemmens A. Maclot S. Maier A. Mason R.M. Moller T. Mullins T.D. Müller E. Olshin P. Peschel J. Ramm D. Richard P. Richardson V. Rijs A. Rolles D. Schnell M. Steber A. Techert S. Trippel S. Tschentscher T. Ueda K. Vallence C. Wahl J. Wiese J. Ziaee F. Тихонов Д.С. Babies F. Bartschat K. Beckmann A. Behrens C. Bolognesi P. Bostedt C. Bozek J. Bozhevolnov A.V. Burt M. Burt S. Bäck J. Cheng X. Cheng X. Coffee R. Cole K. Coreno M. Dammann L. DiMauro L.F. Di_Fraia M. Doerner R. Douguet N. Doumy G. Eng-Johnsson P. Eng-Johnsson P. Ergler T. Fanis A.D. Foucar L. Fritzsche S. Garg D. Gary D.E. Gensch M. Glaser L. Havermeier T. Hoffmann M.C. Hundertmark A. Jiang Y.H. Jones R. Kelly M. Kienberger R. Kuhnel K.U. Kurka M. Lee J.W. Lee J.W. Messerschmidt M. Moeller T. Moshammer R. Nosik V.L. Prenner G. Rading L. Roedig C. Rouzee A. Rudenko A. Schirmel N. Schlarb H. Schoeffler M.S. Scholz F. Schossler S. Schroter C.D. Seltmann J. Sistrunk E. Smolarski M. Sotoudi H. Treusch R. Ullrich J. Viefhaus J. Vrakking M.J. Wada S. Winben L.I. Zatsarinny O. ßler P.G. Бурков С.М. Киселев М.Д. Сажина И.П. Показать ещё Скрыть