Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Ultramicroscopy
журнал
Индексирование: JCR (1 января 1970 г.-), Scopus (1 января 1970 г.-), Index medicus (1 января 1970 г.-), MEDLINE (1 января 1970 г.-), PubMed (1 января 1970 г.-), Белый список (20 октября 2022 г.-)
Период активности журнала: не указан
Издательство:
Elsevier BV
Местоположение издательства:
Netherlands
ISSN:
0304-3991 (Print)
Статьи, опубликованные в журнале
2019
3D surface topography imaging in SEM with improved backscattered electron detector: arrangement and reconstruction algorithm
Borzunov A.A.
,
Karaulov V.Y.
,
Koshev N.A.
,
Lukyanenko D.V.
,
Rau E.I.
,
Yagola A.G.
,
Zaitsev S.V.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 207, с. 112830
DOI
2019
Conduction mechanisms and voltage drop during field electron emission from diamond needles
Olivier Torresin
,
Mario Borz
,
Julien Mauchain
,
Ivan Blum
,
Kleshch Victor I.
,
Obraztsov Alexander N.
,
Angela Vella
,
Benoit Chalopin
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 202, с. 51-56
DOI
2019
Influence of Pixelization on Height Measurement in Atomic Force Microscopy
Tolstova Anna P.
,
Dubrovin Evgeniy V.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 207, с. 112846
DOI
2017
Non-contact scanning probe technique for electric field measurements based on nanowire field-effect transistor
Trifonov A.S.
,
Presnov D.E.
,
Bozhev I.V.
,
Evplov D.A.
,
Desmaris V.
,
Krupenin V.A.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 179, с. 33-40
DOI
2012
Oxidation state and chemical shift investigation in transition metal oxides by EELS
Haiyan Tan
,
Verbeeck Jo
,
Artem Abakumov
,
Gustaaf Van Tendeloo
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 116, с. 24-33
2011
Comparison of radiation-induced segregation in ultrafine-grained and conventional 316 austenitic stainless steels
Etienne A.
,
Radiguet B.
,
Cunningham N.J.
,
Odette G.R.
,
Valiev R.
,
Pareige P.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 111, с. 659
2011
Imaging and strain analysis of nano-scale SiGe structures by tip-enhanced Raman spectroscopy
Hermann Peter
,
Hecker Michael
,
Chumakov Dmytro
,
Weisheit Martin
,
Rinderknecht Jochen
,
Shelaev Artem
,
Dorozhkin Pavel
,
Eng Lukas M.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 111, № 11, с. 1630-1635
2010
Direct space structure solution from precession electron diffraction data: Resolving heavy and light scatterers in Pb13Mn9O25
Hadermann J.
,
Abakumov A.M.
,
Tsirlin A.A.
,
Filonenko V.P.
,
Gonnissen J.
,
Tan H.
,
Verbeeck J.
,
Gemmi M.
,
Antipov E.V.
,
Rosner H.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 110, с. 881-890
DOI
2007
Ab initio determination of heavy oxide perovskite related structures from precession electron diffraction data
Boulahya Khalid
,
Ruiz-González Luisa
,
Parras Marina
,
González-Calbet José M.
,
Nickolsky M.S.
,
Nicolopoulos Stavros
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 107, № 6-7, с. 445-452
DOI
2007
Precession technique and electron diffractometry as new tools for crystal structure analysis and chemical bonding determination
Avilov A.
,
Kuligin K.
,
Nicolopoulos S.
,
Nickolskiy M.
,
Boulahya K.
,
Portillo J.
,
Lepeshov G.
,
Sobolev B.
,
Collette J.P.
,
Martin N.
,
Robins A.C.
,
Fischione P.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 107, № 6-7, с. 431-444
DOI
2004
Electron-acoustic and surface electron beam induced voltage signal formation in scanning electron microscopy analysis of semiconducting samples
Wong W.K.
,
Rau E.I.
,
Thong J.T.L
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 101, № 2-4
DOI
2001
Comparative studies of bacteria with atomic force microscopy operating in different modes
Bolshakova A.V.
,
Kiselyova O.I.
,
Filonov A.S.
,
Frolova O.Yu
,
Lyubchenko Yu L.
,
Yaminsky I.V.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 86, № 1-2, с. 121-128
DOI
2000
Whisker probes
Givargizov E.I.
, Stepanova A.N.,
Obolenskaya L.N.
,
Mashkova E.S.
,
Molchanov V.A.
,
Givargizov M.E.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 82, с. 57-61
1992
AFM AND STM ACTIVITIES AT ADVANCED TECHNOLOGIES CENTER
MOISEEV Y.N.
,
PANOV V.I.
,
SAVINOV S.V.
,
VASILEV S.I.
,
YAMINSKY I.V.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 42, с. 1596-1601
1992
Atomic force and scanning tunneling microscopy of comb-like cholesteric liquid crystalline polymer LB films
Moiseev Yu,
Panov V.
,
Savinov S.
,
Yaminsky I.
,
Todua P.
,
Znamensky D.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 42, № 1, с. 304-309
1992
STM/STS study of photosynthetic bacterial membrane
Golubok A.O.
,
Vinogradova S.A.
,
Tipisev S.Y.
,
Borisov A.Y.
,
Taisova A.S.
,
Kolomytkyn O.V.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 42, № 44, с. 1228-1235